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最新技术
擦写干扰测试系统、方法以及执行装置
本申请提供了擦写干扰测试系统、方法以及执行装置,其技术方案要点是:包括:主控模块、与所述主控模块连接的FPGA模块、与所述FPGA模块连接的待测芯片;所述主控模块用于发送操作指令以及接受所述FPGA模块发送的电平信号;所述FPGA模块接收所述主控模块发出的操作指令并转发给所述待测芯片,使所述待测芯片执行擦除操作或执行编程或执行读取操作,所述FPGA模块对读取操作的结果进行对比并生成电平信号传输至所述主控模块,所述主控模块根据所述电平信号判断是否有擦写干扰。本申请提供的擦写干扰测试系统、方法以及执行装置具有测试效率高的优点。
非易失性存储单元的参考电流确定方法、装置及存储介质
本发明公开一种非易失性存储单元的参考电流确定方法、装置及存储介质,其中,参考电流确定方法包括:接收测试机发送的测试参考电流指令,测试参考电流指令包括最小挡位数;生成若干挡互不相同的参考电流值;遍历参考电流值对存储芯片执行读操作,并分别对存储芯片进行读操作校验,记录能够通过校验的参考电流值的挡位数量、最大参考电流值和最小参考电流值;当挡位数量大于或等于最小电流挡位数,根据最大参考电流值和最小参考电流值确定应用于存储芯片的最佳参考电流值。应用本发明的方法,可以使得生产工艺不同的存储芯片能够根据自身内部实际情况设置参考电流值,从而弥补了生产工艺波动等因素带来的性能差异,提高芯片的可靠性。
一种降低编程功耗的方法、装置、存储介质和终端
本发明公开了一种降低编程功耗的方法、装置、存储介质和终端,读取一定长度编程数据,判断芯片内与该编程数据对应地址中需要编程的地址数量,若地址数量足够,编程模块发送一次编程脉冲,位线电荷泵在此脉冲内启动提供编程电流;若地址数量不足,则再读取一定长度编程数据,直至芯片内与读取的实际编程数据对应的地址中需要编程的地址数足够,且读取的实际编程数据长度不大于芯片最大编程长度,编程模块才会发送一次编程脉冲,位线电荷泵在此脉冲内启动提供编程电流,这样可减小位线电荷泵功耗;而且位线电荷泵分为多个驱动电流能力较小的位线电荷泵单元,根据每次需要编程的地址个数控制位线电荷泵单元启闭数量,以减少输出波纹和进一步减小能耗。

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