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闪存擦除中断恢复测试方法、装置、电子设备及存储介质
本发明公开了一种闪存擦除中断恢复测试方法、装置、电子设备及存储介质,其中,方法包括以下步骤:对闪存中非操作区域写入第一数据信息;对闪存中操作区域写入第二数据信息;选中操作区域的扇区依次循环执行擦除-查空-编程-校验的循环操作,并在擦除过程中按照设定间隔时间中断擦除操作、恢复擦除操作,间隔检测并记录非操作区域的第一数据信息是否产生变化;当选中扇区循环执行操作达到设定的循环次数时,结束循环。该方法使闪存芯片循环进行了多次测试且中断、恢复操作覆盖整个擦除过程,使得测试数据具有代表性,可准确、有效地反映闪存芯片性能,同时,可有效且清楚地反映出擦除中断、恢复操作累积发生对非操作区域数据的影响。
一种固态硬盘的高精密测试系统
本发明公开了一种固态硬盘的高精密测试系统,包括操作台,所述操作台顶部固定安装有测试箱,所述测试箱顶部固定安装有温度测试机构,所述测试箱左侧固定安装有湿度测试机构,所述测试箱内底部固定安装有抗震测试机构,所述抗震测试机构的顶部固定安装有定位工装,所述定位工装的内部夹取有固态硬盘本体,所述测试箱的内部右侧上端固定安装有导电机构,所述导电机构下端端部与固态硬盘本体电性连接;本设备通过设置温度测试机构、抗震测试机构和湿度测试机构,可较为全面精确的对固态硬盘进行测试,同时设置安装机构,使得本设备安装与拆卸均较为方便,进而使得本装置实用性强,应用前景较为广泛,值得推广使用。

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