本发明公开了一种闪存错误信息检测方法、替换方法、装置、设备及存储介质,其中,检测方法包括以下步骤：S1、对芯片进行内部自测,获取芯片中错误数据信息；S2、分析错误数据信息所在地址,将分别出现在芯片存储主区和冗余区的错误数据信息所在的错误地址信息分别标记、记录；该检测方法通过芯片的内部自测功能对芯片存储数据进行整体分析,获取错误数据信息,并以此为基础确定、标记错误地址信息出现位置,将之记录后,可作为芯片挽救的重要依据,避免了芯片利用冗余区进行存储主区挽救时利用了本身存在无法擦写功能的冗余区地址替换存储主区地址的问题,以提供一种简单、便捷、可靠的检测方法,以提供错误信息作为芯片挽救的有效依据。
