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最新技术
芯片验证方法及装置、存储介质
本公开提供了一种芯片验证方法及装置、存储介质,其中,所述方法包括:通过工具链对软件开发工具包SDK插件对应的神经网络模型进行编译,得到第一可执行文件;运行所述SDK插件对应的环境模型,得到第一金数据;通过所述SDK插件对应的参考模型运行所述第一可执行文件,得到第一执行结果,所述参考模型用于模拟所述待测芯片对应的仿真模拟器的硬件可执行程序;基于所述第一金数据和所述第一执行结果,对所述SDK插件对应的所述参考模型进行验证。
PCB插损阻抗测试分析方法、系统、终端及存储介质
本发明提供一种PCB插损阻抗测试分析方法、系统、终端及存储介质,包括:将插损阻抗测试的变量进行量化,选取多个评估目标,并结合变量构建多目标函数,根据评估目标的需求设置多目标函数的约束条件;利用非支配邻域免疫算法训练多目标函数,得到符合约束条件的优势变量方案集群;根据拥挤距离从优势变量方案集群筛选活性变量方案,并对筛选出的活性变量方案进行比例克隆,得到备选方案;根据对评估目标的需求从备选方案中选取目标方案。本发明极大减少软件模拟和试产的次数,提升分析评估效率。与此同时,也可对新技术量化参数并应用到既有函数模型获取目标方案,初步评估新技术可行性,也可针对新技术修改既有模型,提升对新技术的感知效率。
一种确定防焊8点CCD最佳对位值的方法
本发明公开了一种确定防焊8点CCD最佳对位值的方法,包括如下步骤:步骤一、在实物板和菲林的上部和下部均沿长度方向均匀设置有n个防焊CCD点;步骤二、得到maxΔX,maxΔX即ΔX的最大值;步骤三、得到maxΔY,maxΔY即ΔY的最大值;步骤四、得到最佳对位值Δmax=sqrt((maxΔX/2)2+(maxΔY/2)2))。本发明用数学方法模拟出菲林与实际PCB板的最大偏差,再根据阻焊开窗和盖线值,得出阻焊曝光机的最佳PE值,有效预防了PCB的曝光偏位报废,节省了成本且提高了生产效率。

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