本发明提供一种PCB插损阻抗测试分析方法、系统、终端及存储介质,包括:将插损阻抗测试的变量进行量化,选取多个评估目标,并结合变量构建多目标函数,根据评估目标的需求设置多目标函数的约束条件;利用非支配邻域免疫算法训练多目标函数,得到符合约束条件的优势变量方案集群;根据拥挤距离从优势变量方案集群筛选活性变量方案,并对筛选出的活性变量方案进行比例克隆,得到备选方案;根据对评估目标的需求从备选方案中选取目标方案。本发明极大减少软件模拟和试产的次数,提升分析评估效率。与此同时,也可对新技术量化参数并应用到既有函数模型获取目标方案,初步评估新技术可行性,也可针对新技术修改既有模型,提升对新技术的感知效率。