具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

目前，SSD的测试流程主要包括K1&K2&K3开卡测试、高温RDT(ReliabilityDemonstration Testing，可靠性展示测试)测试、BIT(BurnIntest)老化测试、不良品筛选等等；且，目前以上测试流程大多为人工进行测试，不仅对人力成本要求较多，同时，人工测试时各工段衔接流程也比较繁琐，浪费大量时间成本，基于此，本发明实施例提供的一种SSD的自动化测试系统及方法，可以有效缓解上述问题，以提高SSD的测试效率。

为便于对本实施例进行理解，首先对本发明实施例所公开的一种SSD的自动化测试系统进行详细介绍。

在一种可能得实施方式中，本发明实施例提供了一种SSD的自动化测试系统，具体地，如图1所示的一种SSD的自动化测试系统的结构示意图，该SSD自动化测试系统包括工控机10，以及与工控机10连接的至少一个PC机20和PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器)控制系统30；其中，工控机10预先存储有每个PC机的标识；如每个PC机的IP地址等等，以便于控制每个PC机的运行状态，而PLC控制系统30则包括PLC设备301，以及与PLC设备301连接的传动设备302。

具体实现时，上述工控机用于响应作用于SSD的自动化测试系统的启动操作，向PLC设备发送触发信号，以触发PLC设备控制传动设备将待测试SSD从预设的放置区域传动到预设的测试区，以使待测试SSD与PC机电连接。

而此时，PLC设备可以用于监测待测试SSD放置到测试区的确认信号，并在监测到该确认信号之后向工控机发送连接指令；工控机还用于在接收到连接指令时，向至少一个PC机发送测试指令；PC机用于在接收到测试指令之后，按照预设的测试逻辑启动预先存储的测试算法，以对测试区的待测试SSD进行自动化测试。

本发明实施例提供的SSD的自动化测试系统，通过工控机，可以响应启动操作，并通过PLC设备控制传动设备将待测试SSD从预设的放置区域传动到预设的测试区，以使待测试SSD与PC机电连接，并在确认待测试SSD放置到测试区之后通过工控机向PC机发送测试指令，以使PC机在接收到测试指令之后，按照预设的测试逻辑启动预先存储的测试算法，以对固定治具上固定的所述待测试SSD进行自动化测试，并且，整个自动化测试过程无需人工干预，既可简化SSD的生产工艺，又能提高生产效率，同时降低了生产成本及人力成本，不仅实用性强，也进一步提高了SSD的测试效率。

在实际使用时，上述工控机通常也是一种计算机，可以作为控制端主机，并安装局域网监控软件等等，并且，工控机通常具备特定硬件接口，如COM口或者USB口等等，同时，还可以具备较强的抗压、抗震、防尘性能，用户可以自己选择所需的硬件配置，以满足整个SSD的自动化测试系统的硬件需求。

进一步，上述作用于SSD的自动化测试系统的启动操作，通常指测试人员或者开发人员对SSD的自动化测试系统的启动操作，例如，测试人员启动该工控机，并打开相应的SSD自动化测试流程，以及启动PLC设备和PC设备之后，工控机可以自动进行响应，进而向PLC设备发送触发信号，开始将待测试SSD传动到测试区，以执行SSD的自动化测试过程等等。

并且，相对于工控机，上述PLC设备和PC设备通常是外置设备，工控机可以与PLC设备和PC设备进行有线连接，或者无线连接等等，例如，工控机可以通过COM口或者USB口连接PLC设备，以及通过局域网与PC机进行无线连接等等。

进一步，考虑到待测试SSD的数量通常较多，因此，上述与工控机连接的至少一个PC机，通常也有多个，即，PC机多以PC机设备组的形式进行设置，且，在SSD的自动化测试过程中，每个PC机均对应一个SSD，这样可以同时对多个SSD进行测试。因此，上述预设的放置区中通常放置有多个待测试SSD。

具体地，上述预设的放置区用于放置多个按照预设阵列排布的待测试SSD；而为了便于对SSD进行测试，上述测试区也配置有用于固定待测试SSD的固定治具。为了便于传动设备对待测试SSD进行放置，上述放置区和测试区设置在相邻的区域，以便于简化传动设备的传动路径。

进一步，上述固定治具包括互相配合的第一测试治具和第二测试治具，其中，第一测试治具用于固定待测试SSD，第二测试治具则用于当待测试SSD固定在第一测试治具时，使待测试SSD与对应的PC机电连接。

具体地，第一测试治具包括至少一个用于固定待测试SSD的测试槽；每个测试槽配置有第一测试接口，当上述待测试SSD放置到测试槽时，第一测试接口与待测试SSD电连接。第二测试治具包括至少一个与第一测试接口对应的第二测试接口；第二测试接口还与PC机的测试接口连接，以便于当待测试SSD固定在第一测试治具时，通过第一测试接口和第二测试接口使待测试SSD与对应的PC机电连接。

为了便于理解，在图1的基础上，图2示出了另一种SSD的自动化测试系统的结构示意图，包括工控机10、PLC设备301，以及多个PC机，其中，由于工控机作为控制端主机，因此，在相当于是整个SSD的自动化测试系统的操作平台，即，图2中的工控机操作平台，该工控机操作平台与多个PC机通信连接，其中，图2中示出的是多个PC机组成PC机设备组的实施方式，包括PC1、PC2…PCn。

进一步，上述PLC设备通常包括PLC控制器和控制电路，与该PLC设备连接的传动设备通常为气动传动设备，因此，图2中示出了气动传动设备所包括的空气压缩机，以及气压机械设备等等，其中，气压机械设备则包括用于传动待测试SSD的机械臂、机械手或者气压机械吸嘴等。

在实际使用时，上述预设的放置区和测试区通常设置在相邻的区域，即，图2中所示的SSD前端放置区域，具体地，通常，该SSD前端放置区域的从左至右依次为预设的放置区和测试区，在测试区中，第一测试治具放置在第二测试治具的左侧，以便于传动设备将放置区的待测试SSD传动至近邻的第一测试治具进行固定。

进一步，图3示出了一种待测试SSD在放置区的示意图，具体地，上述放置区通常设置有多个按照预设阵列排布的托盘，用于放置待测试SSD，图4则进一步示出了第一测试治具的结构示意图，具体地，图4中示出的是测试槽中固定有待测试SSD的示意图，包括整个第一测试治具的治具工艺边，以及第一测试接口，具体地，该第一测试接口为SATA(SerialATA，串行ATA)接口。图5示出的则是第二测试治具的结构示意图，具体地，图5中示出的是第二测试接口与PC机的测试接口连接的示意图，在实际使用时，上述第二测试治具通常设置成多排多列的方式，PC机的测试接口通常包括SATA数据接口和SATA电源接口，第一测试接口与第二测试接口则通常设置成互相匹配的公座和母座的形式，以便于建立电连接。

具体地，基于图2～图5所示的示意图，本发明实施例所示的SSD的自动化测试系统，在进行SSD自动化测试之前，包括以下过程：

(1)工控机通过COM口或者USB口连接至PLC设备，工控机中安装有自动化测试软件，当打开软件后，PLC设备可以打开气动传动设备的控制阀电路，气动传动设备通常包括由空气压缩机组成的气源装置、气缸输出的机械能及真空吸盘的执行装置、对压缩空气的压力和流量及流动方向调节的控制装置、及线路连接和传感器检测等辅助装置；

(2)PLC设备通过控制气压机械设备的移动和气压真空吸嘴(如气压机械吸嘴等)使SSD前端放置区域的待测试SSD(即，图3所示的待测试SSD)放置在图4所示的第一测试治具进行固定，其中，图4所示的第一测试治具通常为单排放置固定治具，该单排放置固定治具与图5所示的多排多列每排接口相吻合，例如，图4所示的第一测试治具中，第一测试接口为公座，第二测试治具中的第二测试接口为母座等等，此时，第二测试治具中的第二测试接口主要作用是和第一测试治具中的公座连接，且，通常第二测试治具中的第二测试接口与每台PC机输出的SATA数据接口和SATA电源接口连接。

进一步，本发明实施例中的SSD的自动化测试系统还配置有与PLC设备连接的高温测试系统；即图2所示的高温测试系统201。

上述第二测试治具通常设置在高温测试系统对应的区域内，用于在PLC设备的控制下对待测试SSD进行高温可靠性测试。

具体地，上述第二测试治具是建立在高温测试系统的高温治具内，高温测试系统由PL设备来控制开启和关闭，方便对待测试SSD进行高温BIT测试或者高温RDT测试。

进一步，上述在进行SSD自动化测试之前，还包括以下过程：

(3)当第一测试治具中待测试SSD产品放置完成后，PLC设备会控制相应的气动传动设备的气压控制阀电路，推动单排放置的第一测试治具和多排多列的第二测试治具中的某一排母座接口相连接，即，将第一测试接口与其中一排的第二测试接口互相连接，以达成待测试SSD与PC机的电性连接。

(4)待电性连接后由设置在测试区的每个测试槽的传感器可以向PLC设备发送确认信号，该确认信号再由PLC设备传给工控机，工控机收到该确认信号后，会通过局域网控制PC机设备组中的每个PC机打开预先存储的测试算法，以对待测试SSD进行自动化测试。

进一步，如图2所示，本发明实施例提供的SSD的自动化测试系统，还配置有自动回收装置202；

具体地，上述PC机还用于在待测试SSD进行自动化测试过程中，如果监测到测试失败信号，将测试失败信号发送至工控机；工控机还用于在接收到该失败信号之后，触发上述PLC设备控制传动设备将发送失败信号的PC机对应的测试SSD传动至自动回收装置。

在实际使用时，该自动回收装置202是测试不合格产品的回收装置，考虑到SSD的测试过程通常有个测试算法，因此，在测试过程中，如果监测到任意一个测试算法的执行过程中出现测试失败信号，则说明该待测试SSD为不合格产品。

具体地，上述PC机中预先存储的测试算法包括以下测试算法至少之一：预设逻辑的开卡算法、高温可靠性测试算法、常温测试算法；因此，上述PC机还用于在启动任一测试算法时，如果监测到测试失败信号，则将测试失败信号发送至工控机；或者，在开卡算法对应的任一开卡过程中，如果监测到测试失败信号，则将测试失败信号发送至工控机。

进一步，如图2所示，本发明实施例提供的SSD的自动化测试系统还配置有合格品放置区203；上述PC机还用于在待测试SSD的自动化测试过程结束之后，向工控机发送测试完成信号；工控机还用于在接收到测试完成信号之后，触发PLC设备控制传动设备将发送测试完成信号的PC机对应的测试SSD传动至合格品放置区。

具体地，当PC机监测到所有的测试算法就执行完成之后，则会向工控机发送测试完成信号，此时表明待测试SSD通过了本次执行的自动化执行过程，因此，可以将该待测试SSD传动至合格品放置区。

通常，上述PC机中预先存储的测试算法，会包括多种测试算法，如同时包括预设逻辑的开卡算法、高温可靠性测试算法和常温测试算法等等，并且，预设逻辑的开卡算法通常指对SSD进行开卡测试的SSD K1&K2&K3开卡算法。

在实际使用时，该SSD K1&K2&K3开卡算法包括K1开卡过程、K2开卡过程和K3开卡过程，这三个过程与其他测试过程通常是穿插进行。

具体地，K1开卡过程通常作为第一个过程，在该过程中，外观质量完好的待测试SSD会进行功能检测以及开卡，开卡主要是输入客户的资料进行验证SSD的读写性能。当K1开卡过程完成之后，可以继续执行高温可靠性测试算法，例如，K1开卡过程结束之后，待测试SSD会自动进入RDT测试阶段，通常，在K1开卡过程中，PLC设备会提前启动高温测试系统，如打开高温测试系统的高温炉等等，以便于K1开卡过程结束之后直接进行高温可靠性测试。当高温可靠性测试结束之后，PLC设备可以触发高温测试系统关闭，此时可进入K2开卡过程，进行二次开卡，该二次开卡完成之后，则继续执行常温测试算法，如继续进行BIT测试和K3开卡过程的测试等等。

为了便于理解，图6示出了一种SSD的自动化测试系统的测试流程示意图，具体地，以PC机中同时存储预设逻辑的开卡算法、高温可靠性测试算法和常温测试算法为例进行说明，如图6所示，包括以下流程：

S1：打开工控机，启动工控机中预存的SSD自动化测试软件，以及，启动PLC设备和PC机；

S2：PLC设备驱动传动设备将待测试SSD从预设的放置区域传动到预设的测试区的第一测试治具，并通过第一测试治具和第二测试治具实现待测试SSD与PC机的电连接；

S3：PC机自动开启K1开卡过程；

具体地，该K1开卡过程启动后，对应的软件会打开，然后自动浏览所连接的待测试SSD，进行K1开卡动作。此时PLC触发高温测试系统启动，便于K1开卡过程结束后直接进行高温可靠性测试。

S4：如果PC机监测到K1开卡过程出现异常，导致开卡失败，则向工控机发送测试失败信号，并由PLC设备控制传动设备将发送测试失败信号的PC机对应的测试SSD传动至自动回收装置进行回收；

具体地，由于工控机预先存储有每个PC机的标识，因此，在接收到测试失败信号之后，可以根据响应的端口和PC机的标识判断出具体是哪个PC机所对应的待测试SSD出现异常，进而进行回收。

S5：K1开卡过程完成，自动进入RDT测试；

其中，RDT测试通常指高温RDT测试，在RDT测试完成后，工控机所配置的SSD自动化测试软件会根据开卡软件log文件判断各个待测试SSD磁盘bad Block信息，自动筛选BadBlock过多或Program Fail的待测试SSD，并将筛选出的不合格产品传动至自动回收装置进行回收。

当RDT测试完成后，PC机会关闭K1开卡过程，运行K2开卡过程，且，在K2开卡过程运行前，会通过PLC设备关闭上述高温测试系统。

S6：启动K2开卡过程：

具体地，该K2开卡过程通常在进行高低温和老化测试之后进行，此时测试人员可以利用工具以用户设定好的SSD基本信息、NAND ID、缓存芯片(可选)等信息，生成一个专门用于待测试SSD的一个定制固件，并将该固件写入到主控自带的ROM中，同时会进行固件的校验和测试。

在该过程中，K2开卡过程对应的K2开卡软件会对待测试SSD进行第二次开卡步骤，并把磁盘管理下未初始化的磁盘自动初始化和格式化。

S7：在K2开卡后，进行进一步的BIT测试；

通常，此时的BIT测试包括老化、通断电、读写速度测试、休眠、重启、震动测试、全盘检测等，以保证测试的准确性。

在实际使用时，BIT测试的温度可以选择高温，即，启动高温测试系统，也可以进行常温测试，测试中工控机所配置的SSD自动化测试软件可通过BIT软件底层Log文件进行判别不良品，并将判别出的不良品传动至自动回收装置进行回收，测试完成后PC机会关闭K2开卡软件。

S8：运行K3开卡过程；

具体地，K3开卡过程包括的K3开卡软件会对待测试SSD进行K3步骤开卡，并把磁盘管理下未初始化的磁盘自动初始化。该次开卡过程为整个自动化测试过程的最后一次开卡测试流程，该过程中PLC设备同样也可以将测试失败的不合格产品传动至自动回收装置进行回收，以及在该过程完成之后控制相应传动设备的气压控制阀电路，以推动第一测试治具与第二测试治具分离；分离后，对各开卡工段出现的合格产品、不良品或者不合格产品进行分类放置。

S9：测试完成，将合格品传送至合格品放置区进行分类放置。

应当理解，上述所说的第一测试治具和与第二测试治具均为完成自动化测试的治具，不限于其形状和接口数量；上述工控机所配置的SSD自动化测试软件是针对完成SSD测试流程的一种特制软件；上述传动设备是由以压缩空气为动力源来驱动和控制各种机械设备以实现生产过程机械化和自动化的一种技术；上述PC机，主要指常用的个人计算机、笔记本、其他计算机等设备；进一步，上述待测试SSD，泛指各种用NAND FLASH为存储介质的存储产品，如：SSD、mSATA、M.2(NGFF)、PCIE等，具体以实际使用情况为准，本发明实施例对此不进行限制。

综上，本发明实施例提供的SSD的自动化测试系统，当启动工控机操作软件后，能够自动把放置区域的待测试SSD转移到测试治具上，并按照预设的逻辑控制外置PC机和PLC设备驱动气动传动设备自动化完成待测试SSD的全部测试，且，待测试SSD的测试数量可由PC设备、PLC设备的数量决定，使得整个SSD测试不用再重复人工拔插产品，可节省人工和时间上的成本损耗。

进一步，在上述实施例的基础上，本发明实施例还提供了一种SSD的自动化测试方法，应用于上述SSD的自动化测试系统，具体地，如图7所示的一种SSD的自动化测试方法的流程图，该方法包括：

步骤S701，工控机响应作用于所述SSD的自动化测试系统的启动操作，向所述PLC设备发送触发信号，以触发所述PLC设备控制所述传动设备将待测试SSD从预设的放置区域传动到预设的测试区，以使所述待测试SSD与所述PC机电连接；

步骤S702，PLC设备监测所述待测试SSD放置到所述测试区的确认信号，并在监测到所述确认信号之后向所述工控机发送连接指令；

步骤S703，工控机还用于在接收到所述连接指令时，向至少一个所述PC机发送测试指令；

步骤S704，PC机在接收到所述测试指令之后，按照预设的测试逻辑启动预先存储的测试算法，以对所述测试区的所述待测试SSD进行自动化测试。

进一步，上述方法还包括：通过所述PC机在所述待测试SSD进行自动化测试过程中监测测试失败信号，如果监测到所述测试失败信号，将所述测试失败信号发送至所述工控机；所述工控机还用于在接收到所述测试失败信号之后，触发所述PLC设备控制所述传动设备将发送所述测试失败信号的所述PC机对应的所述待测试SSD传动至所述自动回收装置。

本发明实施例提供的SSD的自动化测试方法，与上述实施例提供的SSD的自动化测试系统具有相同的技术特征，所以也能解决相同的技术问题，达到相同的技术效果。

本发明实施例所提供的SSD的自动化测试系统及方法的计算机程序产品，包括存储了程序代码的计算机可读存储介质，所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法，具体实现可参见方法实施例，在此不再赘述。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的方法的具体工作过程，可以参考前述实施例中的对应过程，在此不再赘述。

另外，在本发明实施例的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

最后应说明的是：以上实施例，仅为本发明的具体实施方式，用以说明本发明的技术方案，而非对其限制，本发明的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。