发明内容

发明目的：本发明目的在于针对现有技术，提供一种痕迹检验测量装置解决的问题。

技术方案：本发明所述一种痕迹检验测量装置，包括底板，所述底板上方固定有第一固定座和第二固定座，所述第二固定座远离底板的一面设有显微镜一个或多个，其特征在于：所述第一固定座远离底板的一面设有吸引部件，所述吸引部件和第一固定座之间设有用于调节吸引部件位置的调节部件；

所述吸引部件包括与调节部件相固定的支撑板，所述支撑板另一面固定有弹簧板，弹簧板两端包裹有第一拉板和第二拉板，所述第一拉板和第二拉板靠近调节部件的一面分别设有第一活动足和第二活动足，所述第一活动足和第二活动足与调节部件滑动连接；所述第一拉板和第二拉板分离状态下，弹簧板弹出且高度与第一拉板、第二拉板齐平；所述第一拉板和第二拉板并拢状态下，弹簧板被第一拉板、第二拉板包裹；

所述吸引部件远离调节部件的一面吸附有用于固定物证的容纳部件，所述容纳部件数量与显微镜数量一致；所述容纳部件包括呈多面体状的结构支撑框，所述结构支撑框一面活动吸附有用于显微镜探入的显微镜探入板；所述结构支撑框其他面活动吸附有测量固定板；

所述测量固定板包括与结构支撑框吸附的固定框，所述固定框内交错垂直固定有刻度条若干，各所述刻度条上设有螺纹孔若干，螺纹孔内旋转连接有起固定作用的固定部件。

调节部件有利于调节吸引部件的位置，从而调节容纳部件的位置，有利于显微镜对物证进行观测。为了固定容纳部件，设置了吸引部件，可将容纳部件固定在任意位置。容纳部件有利于放置并固定物证，可任意调节物证的角度并对其夹持，能确保显微镜可观测到物证的任何角度的表面。

吸引部件中，第一拉板和第二拉板并拢时，上方可吸附一个容纳部件。为了使得装置可同时对比观察两个物证，设置了弹簧板，增大了吸引部件的表面积，可吸附两个容纳部件，不使用时也便于将弹簧板收纳在第一拉板和第二拉板内部。第一活动足和第二活动足有利于滑动第一拉板和第二拉板。

容纳部件中，结构支撑框作为支撑整个容纳部件的框架，多面体状有利于从不同方向对物证固定，使得物证呈任意角度放置。为了便于显微镜探入容纳部件中对物证进行观测，设置了显微镜探入板。测量固定板有利于固定部件对物证固定。固定框有利于测量固定板吸附在结构支撑框上。为了对容纳部件内的物证固定，设置了刻度条，螺纹孔有利于调节固定部件进入结构支撑框内的长度，从而调节固定部件对物证的挤压力大小，适用于各种形状的物证，避免压力过大而在夹持过程中对物证表面造成微小损害，保证了物证痕迹测量的精确度。多个螺纹孔有利于从多个方向对物证进行固定，使得物证每个面、每个角落都可呈现在显微镜下。

优选的，所述调节部件包括与第一固定座固定的横向位移板，所述横向位移板远离第一固定座的一面设有横向滑槽，所述横向滑槽内活动连接有第一滑条，所述第一滑条远离横向滑槽的一面固定有纵向位移板，调节纵向位移板时所述第一滑条在横向滑槽内滑动；

所述纵向位移板远离第一滑条的一面设有与横向滑槽垂直的纵向滑槽，所述纵向滑槽内活动连接有第二滑条，所述第二滑条远离纵向位移板的一面与支撑板相固定，调节吸引部件时所述第二滑条在纵向滑槽内滑动。

为了使得纵向位移板可滑动，设置了横向滑槽和第一滑条。为了使得吸引部件可滑动，设置了纵向滑槽和第二滑条。调节纵向位移板，可实现吸引部件横向方向位移。调节吸引部件本身，可实现吸引部件纵向方向的位移。

优选的，所述横向位移板与底板垂直的侧面间隔设有第一限位孔若干，所述第一滑条靠近第一限位孔的一面设有第一探入孔；所述纵向位移板与底板垂直的侧面间隔设有第二限位孔若干，所述第二滑条靠近第二限位孔的一面设有第二探入孔；所述第一限位孔和第一探入孔之间、第二限位孔和第二探入孔之间均连接有限位部件；连接限位部件状态下，纵向位移板和吸引部件位置得到限定；卸下限位部件状态下，纵向位移板和吸引部件位置解除限定。

为了限定调节后的纵向位移板和吸引部件的位置，设置了限位部件，避免使用过程中吸引部件位置发生移动，从而影响观测。

优选的，所述限位部件包括用于连接第一限位孔和第一探入孔或连接第二限位孔和第二探入孔的限位主体，所述限位主体一侧设有连接块，所述连接块另一侧设有深入块；所述深入块分别嵌合在第一限位孔、第一探入孔、第二限位孔和第二探入孔内。

限位部件同时连接第一限位孔和第一探入孔，避免纵向位移板位移；同时连接第二限位孔和第二探入孔，避免吸引部件位移。

优选的，所述弹簧板包括设有凹槽的板体，所述凹槽底面固定有弹簧，所述弹簧另一面固定有活动板；所述第一拉板和第二拉板分离状态下，弹簧伸展，活动板高度与第一拉板、第二拉板平齐；所述第一拉板和第二拉板并拢状态下，活动板位于第一拉板、第二拉板内部，弹簧为压缩状态。

在需要多个物证需要对比观测时，分离第一拉板和第二拉板，活动板在弹簧的作用下弹出，且活动板弹出后的高度与第一拉板、第二拉板平齐。在只需要放置一个物证的情况下，下压活动板并合拢第一拉板和第二拉板即可，有利于活动板的收纳，使用便捷。

优选的，所述第二滑条上设有次滑槽，所述第一活动足和第二活动足与次滑槽滑动连接。

优选的，所述固定部件包括一个或多个分体；各所述分体包括长杆，所述长杆一端设有固定孔，另一端设有旋入固定孔内的固定头，与物证接触的所述固定头外部包裹有接触层。

多个分体有利于调节固定部件的长度，避免露在测量固定板外的长度过长、从而影响显微镜、多个容纳部件的位置的调节。固定孔和固定头有利于各个分体之间的连接。接触层与物证直接接触，在固定物证的同时可避免损坏物证。

优选的，所述第二固定座上固定有伸缩柱，所述伸缩柱另一端固定有滑动条，所述显微镜通过铰接支架与滑动条连接。伸缩柱有利于调节显微镜的高度，铰接支架和滑动条有利于调节显微镜与容纳部件之间的距离。

优选的，所述刻度条上标注有刻度表。在利用显微镜观察的同时，刻度表可辅助告诉人们痕迹的长度。根据垂直交错的刻度条，也可估计面积。

优选的，所述第一拉板、第二拉板靠近容纳部件的一面设有磁铁，所述活动板、结构支撑框的材质为磁铁。

第一拉板和第二拉板表面的磁铁有利于吸附容纳部件。结构支撑框材质为磁铁，有利于吸附显微镜探入板和测量固定板，有利于根据需求选择安装测量固定板的数量。

有益效果：(1)本装置设有用于固定物证的容纳部件，包括结构支撑框和灵活吸附的显微镜探入板和测量固定板，将物证放在结构支撑框内后，将固定部件贯穿测量固定板上的螺纹孔，通过不同方向的固定部件上的接触层固定物证。结构支撑框作为支撑整个容纳部件的框架，多面体状的结构支撑架有利于从不同方向对物证固定，使得物证呈任意角度放置。测量固定板可以根据使用需要灵活安装数量，有利于固定部件对物证固定，其内部的螺纹孔有利于调节固定部件进入结构支撑框内的长度，从而调节固定部件对物证的挤压力大小，适用于各种形状的物证，避免压力过大而在夹持过程中对物证表面造成微小损害，保证了物证痕迹测量的精确度。多个螺纹孔有利于从多个方向对物证进行固定，使得物证每个面、每个角落都可呈现在显微镜下。利用容纳部件固定物证，可将物证稳固夹持，在夹持的同时可任意调节物证的角度，确保显微镜可观测到物证的任何角度的表面。

(2)本装置设有吸引部件，可根据使用需求选择吸附的容纳部件的数量，有利于测量装置将两个物证对比测量。吸引部件中的第一拉板和第二拉板并拢时，上方可吸附一个容纳部件。吸引部件中的第一拉板和第二拉板分离时，弹簧板上的活动板在弹簧的作用下上升，且高度与第一拉板和第二拉板平齐，增大了吸引部件的表面积，可吸附两个容纳部件。吸引部件的表面面积可根据物证的数量增大或减小，满足了使用的多元性，缩小了吸引部件所占用的空间。

(3)本装置设有调节部件，调节部件包括横向位移板和横向滑槽，横向滑槽内活动连接有第一滑条，还包括纵向位移板和纵向滑槽，纵向滑槽内活动连接有第二滑条；通过调节纵向位移板，可实现吸引部件横向方向位移，调节吸引部件本身可实现吸引部件纵向方向的位移。通过对吸引部件横向和纵向方向的移动，有利于调节容纳部件的位置，便于人们利用显微镜进行观察和测量。调节容纳部件的位置无需使用电能，节能省电，绿色环保。本装置还设有限位部件，限位部件同时连接第一限位孔和第一探入孔，避免纵向位移板位移，同时连接第二限位孔和第二探入孔，避免吸引部件位移，从而达到限定调节后的纵向位移板和吸引部件的位置的目的，避免使用过程中吸引部件位置发生移动，从而影响观测。

(4)本装置固定部件包括多个分体，通过各分体上的固定孔和固定头依次螺纹连接，便于调节固定部件的长度，避免露在测量固定板外的长度过长、从而影响显微镜、多个容纳部件的位置的调节。固定层上的接触层与物证直接接触，在固定物证的同时可避免损坏物证。