具体实施方式

下面将结合附图对本发明作进一步说明。

对于功能安全硬件在开发验证测试过程中需要进行高压测试，绝缘阻抗测试，功能测试，性能测试，硬件故障注入测试等各种测试验证。在实际研发测试中往往需要复杂的手工改造被测试硬件，或者设计多种不同的测试治具进行测试，成本大，效率低。本发明的多功能安全硬件测试治具可以用于以上各种测试，并且针对不同硬件板卡类型具有通用性，可以省去设计部署不同测试治具和人工改造被测试硬件的人力物力，并同时提高测试效率。

请参阅图1，本发明提供多功能安全硬件测试治具，包括：第一测试连接器1、第二测试连接器2、测试配置矩阵3。

第一测试连接器1均匀设置多个测试通孔，例如通用标准间距(2.54mm)测试通孔，通过可配置的测试连接器或者测试线缆，连接不同类型的被测试板卡。

对于被测试板卡使用标准欧式连接器的，可以根据被测试板卡连接器类型直接在第一测试连接器1上安装相应配对欧式连接器，利用外部测试线缆进行连接。

对于和非标准连接器连接的，可以在第一测试连接器1上安装标准排针，然后再通过外部测试线缆和被测试板卡连接,和被测试板卡连接的测试线缆需要满足加强绝缘要求。

第一测试连接器1通过内部直通的测试引线连接测试配置矩阵3。测试配置矩阵3由具有标准间距的测试通孔组成，通过不同的测试跳线配置可以支持不同类型的硬件测试。

例如：附图2所示为实施标准3U延伸板测试配置支持功能测试和性能测试，图中第一测试连接器1(J1)配置为5*32标准测试通孔，C1为内部直通的测试引线，测试引线内部之间距离符合绝缘间隙要求大于2.54mm,测试配置矩阵3(S1)使用跳线直通连接到第二测试连接器2(J2)，第二测试连接器2再通过外部测试线缆连接至测试仪器。使用类似配置可以扩展实施标准6U测试延伸板，参考附图3。图3中，J3、C2、S2和J4分别对应图2中J1、C1、S1和J2。

硬件故障注入测试配置和上述测试延长板配置的主要区别在配置测试矩阵部分。如附图4所示，测试配置矩阵3中每组测试点组包括：测试引线点E0、直通连接测试点E2、上拉测试点E1和下拉测试点E3。

测试引线点E0和直通连接测试点E2连接，直通连接测试点E2直连第二测试连接器2，可以直接连接外部测试仪器，通过外部测试仪器可以注入正常激励信号，或者异常震荡激励信号。如果断开E0和E2的短接跳线，则可注入信号开路故障。除了直通测试点E2外，还增加上拉测试点E1和下拉测试点E3，如果E0和E1连接则可以注入信号固定高电平或者短路到电源故障(上拉电阻选为0欧姆或短接)。如果E0和E3连接则可以注入信号固定低电平或者短路到地故障(下拉电阻选为0欧姆或短接)。因此，通过模拟跳线短接不同网络测试引线点E0(或直通测试点E2)，则可以模拟两个网络通道之间短路的故障；使用本发明除了可以方便的进行单点故障的注入测试和故障恢复外，也可进行多点故障的注入测试和恢复，可以大幅提高硬件故障注入测试效率。

高压隔离和绝缘阻抗测试配置如附图5所示，其和上述测试延长板的配置主要区别在于测试引线点和测试连接点的配对关系。对于测试延长板是按照直通连接测试关系一一对应连测试点，对于高压隔离和绝缘阻抗测试，则需按照安全硬件需求对不同分组进行连接。此时，测试配置矩阵3中每组测试点组包括：测试引线点，以及分别连接测试引线点的多个测试连接点(A0…、B0…、C0…、D0…、E0…)。属于同一分组网络的多组测试点组中的一个测试连接点跳线连接第二测试连接器2的同一个测试通道。例如：如果按照硬件需求A0，B3，C12，D6为一组同一分组网络，则此四点均通过跳线连接至第二测试连接器2(J2)的同一个测试通道上。考虑一般硬件分组需求和测试仪器通道限制，图5中第二测试连接器2(J2)只画了32个通道(一般复杂度板卡测试不会超过32通道)，其最大可扩展至160测试通道。测试引线和测试连接点相互之间隔离满足安全规范加强绝缘标准要求。

综上，对于功能和性能测试，通过配置直通的测试配置矩阵，对被测试板卡进行测试激励的输入和对引出的测试对象进行测试。对于高压测试和绝缘阻抗测试可以通过配置跳线或其它短接方法进行不同通道网络组合测试。对于硬件故障注入测试可以通过配置矩阵模拟开路，短路到电源，短路到地，不同信号之间短路,以及信号震荡等故障模式，只需改变测试配置矩阵跳线，操作方便简单，可以大大提高工作效率，降低测试成本。

以上实施例仅供说明本发明之用，而非对本发明的限制，有关技术领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，因此所有等同的技术方案也应该属于本发明的范畴，应由各权利要求所限定。