一种x射线衍射仪用的控温附件
技术领域
本发明涉及衍射仪设备
技术领域
,具体公开了一种X射线衍射仪用的控温附件。背景技术
X射线衍射仪以布拉格实验装置为原型,融合了机械与电子技术等多方面的成果,是以特征X射线照射多晶样品,并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置,X射线衍射仪可对物质结构及组成进行分析,在不破坏样品的情况下,能够准确地测定分子的结构。X射线衍射方法对研究结构体材料是非常理想非常有效的,而对于液体和非晶态物固体,这种方法也能提供许多基本的重要数据,所以X射线衍射法认为是最有效的工具。
一般情况下,测量材料的分子以及组成结构是在常温下进行,为了更好的测量材料的数据,需要对材料进行加热或降温,以测量温度变化对材料结构的影响。
发明内容
本发明意在提供一种X射线衍射仪用的控温附件,以对材料进行升温或降温,便于测量温度变化后对材料结构的影响。
为了达到上述目的,本发明的基础方案如下:一种X射线衍射仪用的控温附件,包括样品台,样品台上设置有夹持台,夹持台上转动连接有夹持轴,夹持轴上螺纹连接有与夹持台水平滑动连接的夹持片,当夹持轴转动时夹持片同向或反向运动;
样品台上设置有空腔,空腔连通有第一阀门,第一阀门连通有负压泵,空腔的外周设置有环形的通道,空腔内设置有若干与夹持台相抵的陶瓷管,陶瓷管内安装有螺旋电圈,陶瓷管的两端均与通道连通;
通道连通有进管和出管,进管连通有第二阀门,出管连通有第三阀门,第二阀门连通有气路系统,通过气路系统向第二阀门输入液氮或空气。
本发明的原理以及有益效果:(1)本方案中,转动夹持轴,可以使得夹持片同向或反向运动,以使得夹持片能够夹持不同大小的材料,对材料进行夹持,提高测量过程中的稳定性。
(2)本方案中,向螺旋电圈通电,以对陶瓷管和夹持台进行加热,以对材料加热,使得材料升温,当需要进行低温测量时,打开第一阀门,通过气路系统向陶瓷管内通入空气,以对陶瓷管和夹持台进行降温,达到常温状态(打开第三阀门将空气排出)。然后再通过气路系统输入液氮以对陶瓷管、夹持台和材料进行降温,以达到降温的目的,该过程是一个连续过程,可迅速对材料进行升温和降温,以达到控温的目的。
当然,实施申请的方案并不一定需要同时达到以上所述的所有技术效果。
进一步,气路系统包括换向阀,换向阀的出口端与第二阀门连通,换向阀的一侧进口端连通有液氮罐,换向阀的另一进口端连通有泵组件。
有益效果:本方案中,当换向阀将第二阀门与泵组件连通时,泵组件向陶瓷管通入空气,利用空气降温,可以使得材料温度变化不过于太大,降低改变材料结构的几率,再使用液氮对材料进行降温,以达到迅速降温的目的。当然,本方案中,也可以进行单一过程,即仅对材料进行升温,也可以仅对材料进行降温。
进一步,夹持台上安装有温度传感器,温度传感器电连接有控制器,控制器电连接有显示器。
有益效果:本方案中,温度传感器以检测待测材料的温度,并且通过显示器显示具体的温度信息,操作人员根据温度信息,调节螺旋电圈的功率,或改变通入液氮的量,以使得操作人员能够可控的调节材料温度。
进一步,样品台上开有凹槽,凹槽内螺纹连接有罩体,罩体上开有开口,开口上设置有封闭圈,夹持台上开有通孔,通孔与空腔连通。
有益效果:本方案中,利用罩体将待测材料罩住,当X衍射源通过开口伸入至罩体内,以使得罩体基本密封,对空腔抽真空时,通过通孔对罩体内抽真空,以使得待测材料基本处于真空环境,达到保护材料的目的,避免材料温度变化过快。当然,陶瓷管位于空腔内,对空腔抽真空,也能降低陶瓷管的温度变化过快,基本达到保温的目的。
进一步,样品台上安装有导线密封圈,螺旋电圈和温度传感器的导线均穿过导线密封圈。
有益效果:通过导线密封圈将导线引出,同时能够达到密封空腔的目的。
进一步,样品台上安装有法兰盘。
有益效果:通过法兰盘壳将样品台侧向安装。
进一步,样品台的底部设置有若干连接轴。
有益效果:通过连接轴可以将样品台水平安装。
进一步,陶瓷管上一体成型有喉管段,喉管段上开有与空腔连通的连通孔,螺旋电圈与陶瓷管转动配合,螺旋电圈上固定有用于封闭连通孔的导热板,螺旋电圈与进管固定连接,进管与样品台转动连接。
有益效果:本方案中,向陶瓷管通入空气时,利用进管转动,进而进管带动螺旋电圈转动,以使得连通孔与空腔连通,初始时,空气的流速较慢,部分空气充入至空腔,逐渐的空气流速加快时,在喉管段的作用下产生一定的负压,将空腔内的杂质抽走,也能将陶瓷管内的杂质吹走,最后将螺旋电圈复位,即将连通孔封闭。当向陶瓷管内充入液氮时,降低杂质对液氮的影响,当然也能降低后续对空腔抽真空的影响。
进一步,控制器电连接有蜂鸣器。
有益效果:若温度过高,控制器通过蜂鸣器进行报警。
进一步,夹持轴的两端均设置有呈圆形的限位件。
有益效果:限位件对夹持片进行限位,以避免限位件从夹持轴上滑出。
附图说明
图1为本发明实施例一中X射线衍射仪用的控温附件的轴测图;
图2为本发明实施例一中X射线衍射仪用的控温附件的俯视图;
图3为图2的A-A向剖视图;
图4为图2的B-B向剖视图;
图5为本发明实施例一中X射线衍射仪用的控温附件的气路系统图;
图6为本发明实施例二中X射线衍射仪用的控温附件中陶瓷管的结构示意图。
具体实施方式
面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
说明书附图中的附图标记包括:样品台11、通道111、凹槽12、罩体121、夹持台13、通孔131、夹持轴14、夹持片15、法兰盘16、进管17、第二阀门171、温度传感器18、出管19、第三阀门191、陶瓷管21、螺旋电圈22、第一阀门23、空腔24、连接轴25、导线密封圈26、连通孔27、导热片28、液氮罐31、气泵32、换向阀33。
实施例一:
基本如附图1、附图2、附图3、附图4和附图5所示:一种X射线衍射仪用的控温附件,包括样品台11,样品台11上螺栓固定有法拉盘,样品台11的底部设置有连接轴25,连接轴25为螺杆,本实施例中,通过法兰盘16可以将样品台11横向安装在衍射仪上,通过螺杆可以将样品台11竖向连接在衍射仪上。
样品台11上可拆卸连接有呈圆形的夹持台13,夹持台13上转动连接有夹持轴14,夹持轴14的两端均固定有限位件,限位件为螺母;夹持轴14两侧的开有旋向相反的螺纹,夹持轴14的两端均螺纹连接有夹持片15,当夹持轴14正向转动时,夹持片15同向运动,当夹持轴14反向转动时,夹持片15反向运动。通过这种方式,可以对不同大小的待测材料进行夹持。夹持台13上开有通孔131,夹持台13上螺钉固定有温度传感器18。样品台11上开有凹槽12,凹槽12内螺纹连接有呈弧形的罩体121,罩体121由透明玻璃材料制成,罩体121上开有开口,开口上安装有封闭圈,本实施例中封闭圈由弹性材料制成,衍射仪的X衍射源的发射头通过开口伸入至罩体121内且利用封闭圈将间隙封闭。
样品台11上开有与通孔131连通的空腔24,空腔24连通有第一阀门23,第一阀门23连通有负压泵,空腔24的外周开有环形的通道111,空腔24内安装有若干陶瓷管21,陶瓷管21与夹持台13相抵,夹持台13由陶瓷材料制成,陶瓷管21的两端均与通道111连通。本实施例中,陶瓷管21内安装有螺旋电圈22,螺旋电圈22的导线穿过陶瓷管21,样品台11上固定有导线密封圈26,螺旋电圈22的导线和温度传感器18的均穿过导线密封圈26,螺旋电圈22的导线与电源连接,温度传感器18的导线连接有控制器,控制器电连接有显示器和蜂鸣器。
本实施例中样品台11的一侧连通有进管17,进管17与通道111连通,进管17连通有第二阀门171,样品台11的另一侧设置有出管19,出管19与通道111连通,出管19连通有第三阀门191,第三阀门191连通有废弃回收装置。第二阀门171连通有气路系统,本实施例中气路系统包括换向阀33,换向阀33的出口端与第二阀门171连通,换向阀33的一个进口端连通有液氮罐31,换向阀33的另一个进口端连通有泵组件,泵组件为气泵32。
具体实施过程如下:
本实施例中,可以将夹持台13从样品台11拆下,然后将待测材料放置于夹持台13上,正向或反向转动夹持轴14,以使得夹持板朝向待测材料或远离待测材料运动,以对不同大小的待测材料进行夹持。
完成夹持后,将夹持台13放置于样品台11上,夹持台13与陶瓷管21相抵(夹持台13充分与陶瓷管21接触)。将罩体121安装于凹槽12内,以将待测材料罩住,衍射仪的发射头通过开口伸入至罩体121内并对准待测材料,此时罩体121基本处于密封状态。
需要进行加热时,预先通过负压泵对空腔24进行抽真空,空腔24通过通孔131进行抽真空,如此使得待测材料以及陶瓷管21基本处于真空状态,启动螺旋电圈22,螺旋电圈22对陶瓷管21进行加热,陶瓷管21对夹持台13进行热传递,直至待测材料加热至一定的温度。温度传感器18将待测材料的温度信号传送至控制器,控制器获取温度信息并通过显示器显示,当温度过高或温度过低时,调节螺旋电圈22的功率,以达到调控温度的目的。陶瓷管21处于真空的空腔24内,可以避免陶瓷管21的温度变化过快。
需要进行降温时,关闭螺旋电圈22,打开第二阀门171和第三阀门191,通过换向阀33将第二阀门171和气泵32连通,气泵32向通道111和陶瓷管21内通入空气,利用空气对陶瓷管21和夹持台13进行降温,直至对待测材料降温,利用空气进行降温,可以使得待测材料的温度变化不至于过快,当显示器显示温度为常温时,将第三阀门191封闭,再通过换向阀33将第二阀门171与液氮罐31连通,通过液氮罐31向陶瓷管21内冲入液氮,通过液氮对待测材料进行快速降温。该过程为一个连续的温度变化过程,可以能有效的进行升温或降温,提高整个过程的温控效率。
本实施例中,可以单独利用螺旋电圈22进行升温,也可以单独利用液氮进行降温,两个系统可以进行独立,以达到控温的目的。
实施例二:
实施例二与实施例一的不同之处在于,如附图6所示,陶瓷管21一体成型有若干喉管段,喉管段上开有与空腔24连通的连通孔27,螺旋电圈22上固定有用于封闭连通孔27的导热片28,螺旋电圈22与进管17固定连接,进管17与样品台11转动连接。
具体实施过程如下:
本实施例中,可以对空腔24和陶瓷管21进行一定的清理,具体的:夹持片15对待测材料进行夹持时,可能导致一些粉末在夹持台13上或者空腔24内。需要对粉尘等杂质进行清理时,操作人员转动进管17,进管17带动螺旋电圈22转动,以使得导热板与连通孔27错开。
通过气泵32向陶瓷管21内送入一定的空气,部分空气进入至空腔24内,此时空腔24和罩体121内的负压失去,然后再加快气泵32的送入量,提高空气在陶瓷管21内的流速,并且在喉管段形成负压,在负压的作用下,粉尘等随气流进入至陶瓷管21内,并通过出管19排出。排出杂质,降低杂质对升温以及降温的影响。
当通入液氮时,再将螺旋电圈22复位使得陶瓷管21封闭,再对空腔24进行抽真空,当然抽真空的时候也能将粉末等排出,本实施例使用两种方式配合,尽量降低粉末的残留。
以上所述的仅是本发明的实施例,方案中公知的具体结构和/或特性等常识在此未作过多描述。应当指出,对于本领域的技术人员来说,在不脱离本发明结构的前提下,还可以作出若干变形和改进,这些也应该视为本发明的保护范围,这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。本申请要求的保护范围应当以其权利要求的内容为准,说明书中的具体实施方式等记载可以用于解释权利要求的内容。
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