发明内容

为解决现有技术中存在的问题，本发明提供一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，能够仅通过一台电容测试仪表实现高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，同时保证测试的高效率。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法，包括以下步骤：

S1、将电容测试仪表连接开关网络；

S2、用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建；

S3、所述搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道；

S4、分别将多路测试探针固定于上下两个针卡；

S5、连接电容测试仪表、开关网络和测试探针，使用测试探针进行自动测试。

在本技术方案中，电容测试仪表具有电流驱动高端Hcur、电流驱动低端Lcur、电压检测高端Hpot、电压检测低端Lpot和对应于每测试端的屏蔽端一共四对测试端，一台电容测试仪表连接四套开关网络，克服了现有技术方案中的需要多台电容测试仪表才能测试的缺陷，同时用射频机械式继电器开关将所述开关网络进行搭建，搭建好的开关网络每次导通一个通道，无需增加横向平面运动机构，搭建好的开关网络将电容测试仪表的电流驱动高端Hcur端口、电压检测高端Hpot端口、电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口的信号分别分为多路，并每次导通一个通道，实现了高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，分别将多路测试探针固定于上下两个针卡，连接电容测试仪表、开关网络和测试探针，使用测试探针进行自动测试，保证了测试的高效率。

在进一步的技术方案中，步骤S1包括：

一个电容测试仪表匹配的开关网络包括但不限于四套；

所述电容测试仪表包括但不限于LCR表、电容计或数字电桥。

在本技术方案中，四套开关网络(或一套，或两套，或三套)。

在进一步的技术方案中，步骤S2中的继电器包括但不限于：

单刀单掷继电器、单刀双掷继电器、单刀3掷继电器、单刀4掷继电器、单刀5掷继电器、单刀6掷继电器、单刀7掷继电器、单刀8掷继电器、单刀9掷继电器、单刀10掷继电器、单刀11掷继电器、单刀12掷继电器、单刀13掷继电器、单刀14掷继电器、单刀15掷继电器、单刀16掷继电器、单刀17掷继电、单刀18掷继电器、单刀19掷继电器和单刀20掷继电器。

在本实施例中，根据各种继电器开关形成的不同链路。

在进一步的技术方案中，步骤S5包括：

将每通道电流驱动高端Hcur端口和电压检测高端Hpot端口连接到一个针卡中的一个探针；

将每通道电流驱动低端Lcur端口和电压检测高端Lpot端口连接另一个针卡中的一个探针。

在本技术方案中，使用测试探针进行自动测试，保证了测试的高效率。

本发明的有益效果是：

(1)本发明中应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法能够对高频电容(1MHz)进行测试；

(2)本发明中应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法成本低，不需要多台电容测试仪表，无需增加横向平面运动机构，测试效率高；

(3)本发明中应用于电容双参数测试分选机的自动测试方法仅通过一台电容测试仪表实现高频(1MHz)电容器的容值和损耗参数的多通道高速测试和自动分选，同时保证测试的高效率。