具体实施方式

在下文中将参照附图更全面地描述本发明，在附图中示出了各种实施例。如本领域技术人员将认识到的，可以以各种不同的方式修改所描述的实施例，而全部不脱离本公开的精神或范围。

与描述无关的部分将被省略以清楚地描述本公开，并且在整个说明书中，相同的附图标记表示相同的元件。

通常提供附图中交叉影线和/或阴影的使用以阐明邻近的元件之间的边界。因此，除非被说明，否则无论是存在还是不存在交叉影线或阴影都不能传达或指示对特定材料、材料特性、尺寸、比例、所图示的元件之间的共性和/或元件的任何其他特征、属性、特性等的任何偏爱或要求。进一步，在附图中，为了清楚和/或描述性目的，可能夸大了元件的尺寸和相对尺寸。当实施例可以不同地实现时，特定过程可以以与所描述的顺序不同的顺序执行。例如，两个连续描述的过程可以基本上同时执行或以与所描述的顺序相反的顺序执行。

当元件或层被称为“在”另一元件或层“上”、“连接到”或“耦接到”另一元件或层时，它可以直接在另一元件或层上、连接到或耦接到另一元件或层，或者可以存在中间元件或层。然而，当元件或层被称为“直接在”另一元件或层“上”、“直接连接到”或“直接耦接到”另一元件或层时，则不存在中间元件或层。为此，术语“连接”可以指代具有或不具有中间元件的物理、电气和/或流体连接。进一步，X轴、Y轴和Z轴不限于直角坐标系的三个轴(诸如x轴、y轴和z轴)，并且可以在更广泛的意义上进行解释。例如，X轴、Y轴和Z轴可以彼此垂直，或者可以表示彼此不垂直的不同方向。为了本公开的目的，“X、Y和Z中的至少一个”和“选自由X、Y和Z组成的组中的至少一个”可以被解释为仅X、仅Y、仅Z、或者X、Y和Z中的两个或更多个的任何组合，例如，XYZ、XYY、YZ和ZZ。如本文中所使用，术语“和/或”包括关联的所列项目中的一个或多个的任何和所有组合。

尽管术语“第一”、“第二”等在本文中可以用来描述各种类型的元件，但是这些元件不应该受这些术语的限制。这些术语用于将一个元件与另一元件区分开。因此，下面讨论的第一元件可以被称为第二元件，而不脱离本公开的教导。

空间相对术语，例如，“下面”、“下方”、“下”、“下部”、“上方”、“上部”、“之上”、“较高”、“侧”(例如，如在“侧壁”中)等，在本文中可用于描述性目的，并且从而以描述如附图中所图示的一个元件与另一(些)元件的关系。空间相对术语旨在涵盖除附图中所描绘的定向之外的在使用、操作和/或制造中的设备的不同定向。例如，如果附图中的设备被翻转，则被描述为在其他元件或特征“下方”或“下面”的元件将随之被定向在其他元件或特征“上方”。因此，示例性术语“下方”可以涵盖上方和下方两种定向。此外，设备可以以其他方式(例如，旋转90度或以其他定向)定向，并且因此，相应地解释本文中使用的空间相对描述语。

本文中所使用的术语是出于描述特定实施例的目的，而并非旨在进行限制。如本文中所使用的，单数形式“一”和“该(所述)”旨在包括复数形式，除非上下文另外明确指示。此外，当术语“包含”及其变型和/或“包括”及其变型在本说明书中使用时，指定所陈述的特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或其组合的存在，但是不排除一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或其组合的存在或添加。还应注意，如本文中所使用的，术语“基本上”、“约”以及其他类似术语被用作近似术语而不是程度术语，并且因此，被利用用于解释本领域普通技术人员将认识到的测量值、计算值和/或提供值中的固有偏差。

在本文中参照截面图示和/或分解图示描述各种实施例，该截面图示和/或分解图示是理想化的实施例和/或中间结构的示意性图示。因此，例如由于制造技术和/或公差导致的图示的形状的变化是可以预期的。因此，本文中公开的实施例不必一定被解释为限于区域的特定图示出的形状，而应包括例如由于制造导致的形状的偏差。以这种方式，附图中图示出的区域本质上可以是示意性的，并且这些区域的形状可以不反映装置的区域的实际形状，并且因此，不一定旨在是限制性的。

如本领域中的惯例，一些实施例在附图中以功能块、单元和/或模块来描述和图示出。本领域技术人员将理解，这些块、单元和/或模块由电子(或光学)电路(诸如逻辑电路、分立部件、微处理器、硬连线电路、存储元件、布线连接等)物理地实现，电子(或光学)电路可以使用基于半导体的制造技术或其他制造技术来形成。在块、单元和/或模块由微处理器或其他类似硬件实现的情况下，它们可以使用软件(例如，微代码)进行编程和控制以执行本文中讨论的各种功能，并且可以可选地由固件和/或软件驱动。还可以预期，每个块、单元和/或模块可以由专用的硬件来实现，或者被实现为执行一些功能的专用的硬件和执行其他功能的处理器(例如，一个或多个编程的微处理器和关联的电路)的组合。此外，一些示例性实施例的每个块、单元和/或模块可以物理地被分成两个或更多个相互作用且离散的块、单元和/或模块，而不脱离本发明构思的范围。进一步，一些实施例的块、单元和/或模块可以物理地被组合成更复杂的块、单元和/或模块，而不脱离本发明构思的范围。

除非另有限定，否则本文中使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开所属领域的普通技术人员通常理解的含义相同的含义。术语，例如在常用词典中限定的术语，应当被解释为具有与其在相关领域的上下文中的含义一致的含义，并且在本文中除非明确地如此限定，否则不应当以理想化或过于正式的意义来解释。

在下文中，将参照附图详细描述本发明的实施例。

图1是根据实施例的显示装置的透视图，图2是根据实施例的显示装置的平面图，并且图3是根据实施例的显示装置的框图。

在本说明书中，“上”、“之上”、“顶”、“上侧”或“上表面”指代相对于显示装置10的向上方向，即，Z轴方向，并且“下面”、“下”、“底”、“下侧”或“下表面”指代相对于显示装置10的向下方向，即与Z轴方向相反的方向。进一步，“左”、“右”、“上部”和“下部”指代从平面观看显示装置10时的方向。例如，“左”指代与X轴方向相反的方向，“右”指代X轴方向，“上部”指代Z轴方向，并且“下部”指代与Z轴方向相反的方向。

参照图1至图3，作为用于显示移动图像或静止图像的装置的显示装置10的实施例可以是诸如电视机、膝上型计算机或笔记本计算机、显示器、广告牌、物联网(“IOT”)的包括显示屏的装置，以及诸如移动电话、智能电话、平板个人计算机(“PC”)、智能手表、手表电话、移动通信终端、电子笔记本、电子书、便携式多媒体播放器(“PMP”)、导航器和超移动PC(“UMPC”)的便携式电子器件。

显示装置10可以是发光显示装置，诸如包括有机发光二极管的有机发光显示装置、包括量子点发光层的量子点发光显示装置、包括无机半导体的无机发光显示装置或使用微发光二极管的微发光显示装置。在下文中，为了便于描述，将描述显示装置10是有机发光显示装置的实施例，但是本发明不限于此。

显示装置10的实施例可以包括显示面板100、显示驱动器200和电路板300。

显示面板100可以具有矩形平面形状，其具有沿第一方向(X轴方向)的短边和沿与第一方向(X轴方向)交叉的第二方向(Y轴方向)的长边。第一方向(X轴方向)上的短边与第二方向(Y轴方向)上的长边相遇的拐角可以具有直角形状或带有预定曲率的圆形形状。显示面板100的平面形状不限于矩形形状，并且可以被不同地修改成另一多边形、圆形或椭圆形。显示面板100可以是平坦的，但是显示面板100的形状不限于此。显示面板100可以包括弯曲部分，弯曲部分在显示面板100的左端和右端且具有恒定的曲率或可变的曲率。显示面板100可以被柔性地形成为翘曲、弯曲、折叠或卷曲。

显示面板100可以包括其中布置有像素SP以显示图像的显示区域DA和作为显示区域DA的外围区域的非显示区域NDA。显示区域DA可以包括像素SP、连接到像素SP的扫描线SL、发射控制线EL、数据线DL和电压供给线VL。扫描线SL和发射控制线EL可以在第一方向上平行地设置。数据线DL和电压供给线VL可以在与第一方向交叉的第二方向上平行地设置。

像素SP中的每一个可以连接到对应的扫描线SL、对应的数据线DL、对应的发射控制线EL和对应的电压供给线VL。图2是像素SP中的每一个连接到两条扫描线SL、一条数据线DL、一条发射控制线EL和一条电压供给线VL的实施例，但是本发明不限于此。在一个替代实施例中，例如，像素SP中的每一个可以连接到三条扫描线SL。

像素SP可以包括第一像素至第三像素RP、BP和GP。第一像素RP可以连接到第一数据线DL1和第一扫描线SL1。第二像素BP可以连接到第一数据线DL1和第二扫描线SL2。第一像素RP和第二像素BP可以连接到同一数据线DL，并且可以连接到彼此不同的扫描线SL。第一像素RP可以被设置在奇数行中以连接到奇数行的扫描线SL1、SL3、...、SL(n-1)(n是2的倍数)，并且第二像素BP可以被设置在偶数行中以连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、...、SLn。第一像素RP和第二像素BP不限于图2中所示的像素，并且可以沿着同一数据线DL交替地设置。在一个实施例中，例如，扫描驱动器400可以通过将扫描信号供给到多条扫描线SL中的一些来执行第一像素RP的点亮检查。在一个替代实施例中，例如，扫描驱动器400可以通过将扫描信号供给到多条扫描线SL中的其他扫描线来执行第二像素BP的点亮检查。

第三像素GP可以连接在多条扫描线SL中的对应的扫描线与第二数据线DL2之间。第三像素GP可以沿着同一数据线DL设置。在一个实施例中，例如，第一像素RP和第二像素BP可以连接到奇数数据线DL1、DL3、...、DL(m-1)(m是2的倍数)，并且第三像素GP可以连接到偶数数据线DL2、DL4、...、DLm。

像素SP中的每一个可以包括驱动晶体管、开关晶体管、发光元件和电容器。当从扫描线SL施加扫描信号时，开关晶体管可以导通，并且因此，数据线DL的数据电压可以被施加到驱动晶体管的栅电极。驱动晶体管可以基于施加到栅电极的数据电压将驱动电流供给到发光元件，并且发光元件可以发射具有与驱动电流的强度相对应的预定亮度的光。在一个实施例中，例如，驱动晶体管和开关晶体管可以是薄膜晶体管。发光元件可以是包括第一电极、有机发光层和第二电极的有机发光二极管。电容器可以使施加到驱动晶体管的栅电极的数据电压维持恒定。

非显示区域NDA可以被限定为从显示区域DA到显示面板100的边缘的区域。非显示区域NDA可以进一步包括用于将扫描信号施加到扫描线SL的扫描驱动器400、在数据线DL与显示驱动器200之间的扇出线、连接到显示驱动器200以供给数据电压的焊盘DP、用于供给点亮电压的测试焊盘TP以及用于供给测试栅信号的测试栅焊盘TGP。

在一个实施例中，例如，显示驱动器200可以被布置在显示面板100的一侧，并且焊盘DP、测试焊盘TP和测试栅焊盘TGP可以被设置在显示面板100的边缘部分。焊盘DP、测试焊盘TP和测试栅焊盘TGP可以被设置成比显示驱动器200更靠近显示面板100的边缘。

测试焊盘TP可以包括第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3。第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3可以分别接收第一点亮电压至第三点亮电压。第一点亮电压至第三点亮电压中的每一个可以是开启像素SP的灰度电压或关闭像素SP的黑色电压。第一点亮电压至第三点亮电压中的每一个可以是DC电压，但是不限于此。在一个实施例中，例如，第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3可以连接到点亮装置或电源装置，并且可以接收第一点亮电压至第三点亮电压。

非显示区域NDA可以进一步包括连接在测试焊盘TP与显示驱动器200之间的测试晶体管。测试晶体管可以包括第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4。第一测试晶体管TT1可以连接在第一测试焊盘TP1与第一数据线DL1之间，并且第二测试晶体管TT2可以连接在第二测试焊盘TP2与第二数据线DL2之间。第三测试晶体管TT3可以连接在第三测试焊盘TP3与第三数据线DL3之间，并且第四测试晶体管TT4可以连接在第二测试焊盘TP2与第四数据线DL4之间。第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个可以连接在测试焊盘TP中的对应的测试焊盘与多条数据线DL中的对应的数据线DL之间，从而选择性地将第一点亮电压至第三点亮电压供给到多条数据线。在一个实施例中，例如，第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个可以接收同一测试栅信号以同时导通或截止。

测试栅焊盘TGP可以接收测试栅信号，并且可以连接到第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个的栅电极。在一个实施例中，例如，测试栅焊盘TGP可以连接到点亮装置，并且可以从点亮装置接收使第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4导通的测试栅信号。

扫描驱动器400可以通过多条扫描控制线SCL连接到显示驱动器200。扫描驱动器400可以通过多条扫描控制线SCL从显示驱动器200接收扫描控制信号SCS和发射控制信号ECS。

在实施例中，如图3中所示，扫描驱动器400可以包括扫描驱动电路410和发射控制驱动电路420。

扫描驱动电路410可以基于扫描控制信号SCS生成扫描信号，并且可以将扫描信号顺序地输出到扫描线SL。发射控制驱动电路420可以对应于来自显示驱动器200的发射控制信号ECS生成发射信号，并且可以将发射信号顺序地输出到发射控制线EL。

扫描驱动器400可以包括多个薄膜晶体管。扫描驱动器400可以与像素SP的薄膜晶体管形成在同一层中。在实施例中，如图2中所示，扫描驱动器400形成在位于显示区域DA的一侧(例如，左侧)的非显示区域NDA中，但是本发明不限于此。在一个替代实施例中，例如，扫描驱动器400可以形成在位于显示区域DA的两个相对侧(例如，左侧和右侧)的非显示区域NDA中。

在实施例中，如图3中所示，显示驱动器200可以包括时序控制器210、数据驱动器220和电源单元230。

时序控制器210可以从电路板300接收数字视频数据DATA和时序信号。时序控制器210可以基于时序信号生成用于控制数据驱动器220的操作时序的数据控制信号DCS，可以基于时序信号生成用于控制扫描驱动电路410的操作时序的扫描控制信号SCS，并且可以基于时序信号生成用于控制发射控制驱动电路420的操作时序的发射控制信号ECS。时序控制器210可以将数字视频数据DATA和数据控制信号DCS供给到数据驱动器220。时序控制器210可以通过多条扫描控制线SCL将扫描控制信号SCS供给到扫描驱动电路410，并且可以将发射控制信号ECS供给到发射控制驱动电路420。

数据驱动器220可以将数字视频数据DATA转换成模拟数据电压，并且通过扇出线将模拟数据电压供给到数据线DL。扫描驱动器400的扫描信号可以选择要向其供给数据电压的像素SP，并且数据驱动器220可以将数据电压供给到所选择的像素SP。

电源单元230可以生成第一驱动电压，并且将第一驱动电压供给到电压供给线VL。电源单元230可以生成第二驱动电压，并且将第二驱动电压供给到像素SP中的每一个的发光元件的阴极电极。这里，第一驱动电压可以是用于驱动发光元件的高电位电压，并且第二驱动电压可以是用于驱动发光元件的低电位电压。即，第一驱动电压可以具有比第二驱动电压更高的电位。

在实施例中，显示驱动器200形成为集成电路(“IC”)，并且可以通过玻璃上芯片(“COG”)方法、塑料上芯片(“COP”)方法或超声接合方法附接到显示面板100上。然而，本发明不限于此。在一个替代实施例中，例如，显示驱动器200可以附接到电路板300上。

可以使用各向异性导电膜将电路板300附接到焊盘DP上。因此，电路板300的引线可以电连接到焊盘DP。电路板300可以是柔性印刷电路板、印刷电路板或诸如膜上芯片的柔性膜。

图4是图示出了根据实施例的显示装置的像素的电路图。

参照图2至图4，在实施例中，像素SP可以沿着多个行和多个列被设置在显示面板100上。在一个实施例中，例如，像素SP可以被布置在显示区域DA的第k行和第j列中。在这种情况下，像素SP可以连接到第(k-1)(在本文中，k是2或更大的自然数)扫描线SL(k-1)、第k扫描线SLk、第k发射控制线ELk和第j(在本文中，j是自然数)数据线DLj。在这样的实施例中，像素SP可以连接到供给第一驱动电压VDD的电压供给线VL、供给初始化电压VINT的初始化电压线以及供给第二驱动电压VSS的电压供给线。

像素SP可以包括驱动晶体管DT、发光元件E、开关元件和第一电容器C1。在一个实施例中，例如，开关元件可以包括第一开关晶体管至第六开关晶体管ST1、ST2、ST3、ST4、ST5和ST6。

驱动晶体管DT基于施加到栅电极的数据电压来控制源-漏电流(Isd)(在下文中被称为“驱动电流”)。当驱动晶体管DT的源-栅电压(Vsg)超过阈值电压(Vth)时，驱动电流(Isd)可以流过驱动晶体管DT的沟道。在一个实施例中，例如，驱动电流(Isd)与驱动晶体管DT的栅-源电压(Vsg)和阈值电压(Vth)之间的差的平方成正比，如下方的等式1中所示。

[等式1]

Isd＝k′X(Vsg-Vth)²

在等式1中，k'表示由驱动晶体管DT的结构和物理特性决定的比例系数，Vsg表示驱动晶体管DT的源-栅电压，并且Vth表示驱动晶体管DT的阈值电压。

发光元件E可以接收驱动电流(Isd)以发光。发光元件E的发射量或亮度可以与驱动电流(Isd)的强度成正比。

发光元件E可以是有机发光二极管，有机发光二极管包括第一电极、第二电极以及被布置在第一电极与第二电极之间的有机发光层。可替代地，发光元件E可以是无机发光元件，无机发光元件包括第一电极、第二电极以及被布置在第一电极与第二电极之间的无机半导体。可替代地，发光元件E可以是量子点发光元件，量子点发光元件包括第一电极、第二电极以及被布置在第一电极与第二电极之间的量子点发光层。可替代地，发光元件E可以是微发光二极管。在一个实施例中，例如，发光元件E的第一电极可以是阳极电极，并且发光元件E的第二电极可以是阴极电极，但是本发明不限于此。

发光元件E的第一电极或阳极电极可以连接到第四开关晶体管ST4的第二电极或漏电极以及第六开关晶体管ST6的第二电极或漏电极。发光元件E的第二电极或阴极电极可以连接到供给第二驱动电压VSS的电压供给线。

第一开关晶体管ST1可以选择性地将初始化电压VINT供给到驱动晶体管DT的栅电极。在一个实施例中，例如，第一开关晶体管ST1可以是包括第一-第一开关晶体管ST1-1和第二-第一开关晶体管ST1-2的双晶体管。第一-第一开关晶体管ST1-1和第二-第一开关晶体管ST1-2可以响应于第(k-1)扫描线SL(k-1)的扫描信号而导通，以将初始化电压VINT供给到驱动晶体管DT的栅电极。驱动晶体管DT的栅电极可以接收初始化电压VINT以被放电。第一-第一开关晶体管ST1-1的栅电极可以连接到第(k-1)扫描线SL(k-1)，第一-第一开关晶体管ST1-1的第一电极可以连接到供给初始化电压VINT的初始化电压线，并且第一-第一开关晶体管ST1-1的第二电极可以连接到第二-第一开关晶体管ST1-2的第一电极。第二-第一开关晶体管ST1-2的栅电极可以连接到第(k-1)扫描线SL(k-1)，第二-第一开关晶体管ST1-2的第一电极可以连接到第一-第一开关晶体管ST1-1的第二电极，并且第二-第一开关晶体管ST1-2的第二电极可以连接到驱动晶体管DT的栅电极。在一个实施例中，例如，第一开关晶体管ST1的第一电极可以是源电极，并且第一开关晶体管ST1的第二电极可以是漏电极。

第二开关晶体管ST2可以选择性地将数据电压供给到驱动晶体管DT的第一电极。第二开关晶体管ST2可以响应于第k扫描线SLk的扫描信号而导通，以将数据电压供给到驱动晶体管DT的第一电极。第二开关晶体管ST2的栅电极可以连接到第k扫描线SLk，第二开关晶体管ST2的第一电极可以连接到第j数据线DLj，并且第二开关晶体管ST2的第二电极可以连接到驱动晶体管DT的第一电极。在一个实施例中，例如，第二开关晶体管ST2的第一电极可以是源电极，并且第二开关晶体管ST2的第二电极可以是漏电极。

第三开关晶体管ST3可以选择性地连接驱动晶体管DT的第二电极和栅电极。在一个实施例中，例如，第三开关晶体管ST3可以是包括第一-第三开关晶体管ST3-1和第二-第三开关晶体管ST3-2的双晶体管。第一-第三开关晶体管ST3-1和第二-第三开关晶体管ST3-2可以响应于第k扫描线SLk的扫描信号而导通，以连接驱动晶体管DT的第二电极和栅电极。即，当第一-第三开关晶体管ST3-1和第二-第三开关晶体管ST3-2导通时，驱动晶体管DT的第二电极和栅电极被连接，并且因此，驱动晶体管DT可以被驱动为二极管。第一-第三开关晶体管ST3-1的栅电极可以连接到第k扫描线SLk，第一-第三开关晶体管ST3-1的第一电极可以连接到驱动晶体管DT的第二电极，并且第一-第三开关晶体管ST3-1的第二电极可以连接到第二-第三开关晶体管ST3-2的第一电极。第二-第三开关晶体管ST3-2的栅电极可以连接到第k扫描线SLk，第二-第三开关晶体管ST3-2的第一电极可以连接到第一-第三开关晶体管ST3-1的第二电极，并且第二-第三开关晶体管ST3-2的第二电极可以连接到驱动晶体管DT的栅电极。在一个实施例中，例如，第三开关晶体管ST3的第一电极可以是源电极，并且第三开关晶体管ST3的第二电极可以是漏电极。

第四开关晶体管ST4可以选择性地将初始化电压VINT供给到发光元件E的第一电极。第四开关晶体管ST4可以响应于第k扫描线SLk的扫描信号而导通，以将初始化电压VINT供给到发光元件E的第一电极。发光元件E的第一电极可以接收初始化电压VINT以被放电。第四开关晶体管ST4的栅电极可以连接到第k扫描线SLk，第四开关晶体管ST4的第一电极可以连接到供给初始化电压VINT的初始化电压线，并且第四开关晶体管ST4的第二电极可以连接到发光元件E的第一电极。在一个实施例中，例如，第四开关晶体管ST4的第一电极可以是源电极，并且第四开关晶体管ST4的第二电极可以是漏电极。

第五开关晶体管ST5可以选择性地将第一驱动电压VDD供给到驱动晶体管DT的第一电极。第五开关晶体管ST5可以响应于第k发射控制线ELk的发射信号而导通，以将第一驱动电压VDD供给到驱动晶体管DT的第一电极。第五开关晶体管ST5的栅电极可以连接到第k发射控制线ELk，第五开关晶体管ST5的第一电极可以连接到供给第一驱动电压VDD的电压供给线VL，并且第五开关晶体管ST5的第二电极可以连接到驱动晶体管DT的第一电极。在一个实施例中，例如，第五开关晶体管ST5的第一电极可以是源电极，并且第五开关晶体管ST5的第二电极可以是漏电极。

第六开关晶体管ST6可以选择性地连接驱动晶体管DT的第二电极和发光元件E的第一电极。第六开关晶体管ST6可以响应于第k发射控制线ELk的发射信号而导通，以连接驱动晶体管DT的第二电极和发光元件E的第一电极。第六开关晶体管ST6的栅电极可以连接到第k发射控制线ELk，第六开关晶体管ST6的第一电极可以连接到驱动晶体管DT的第二电极，并且第六开关晶体管ST6的第二电极可以连接到发光元件E的第一电极。在一个实施例中，例如，第六开关晶体管ST6的第一电极可以是源电极，并且第六开关晶体管ST6的第二电极可以是漏电极。当第五开关晶体管ST5和第六开关晶体管ST6两者都导通时，驱动电流(Isd)可以被供给到发光元件E。

第一电容器C1可以连接在驱动晶体管DT的栅电极与电压供给线VL之间。第一电容器C1的一个电极可以连接到电压供给线VL，并且第一电容器C1的另一电极可以连接到驱动晶体管DT的栅电极，从而维持电压供给线VL与驱动晶体管DT的栅电极之间的电位差。

在一个实施例中，例如，第一开关晶体管至第六开关晶体管ST1、ST2、ST3、ST4、ST5、ST6和驱动晶体管DT中的每一个的半导体层可以通过使用多晶硅的低温多晶硅(“LTPS”)工艺来形成，但是本发明不限于此。

图5是图示出了根据实施例的显示装置的扫描驱动器的框图。

参照图5，扫描驱动电路410的实施例可以包括第一扫描驱动电路411和第二扫描驱动电路412。第一扫描驱动电路411可以被布置在显示面板100的一侧，并且可以包括多个级STG1至STGn。第二扫描驱动电路412可以被布置在显示面板100的另一侧，并且可以包括多个级STG1至STGn。第一扫描驱动电路411和第二扫描驱动电路412可以彼此相对布置。在一个实施例中，例如，第一扫描驱动电路411和第二扫描驱动电路412可以分别被布置在显示面板100的相对两侧，以输出相同的扫描信号，但是本发明不限于此。在下文中，为了便于描述，将主要描述第一扫描驱动电路411的多个级STG1至STGn，并且将省略第二扫描驱动电路412的多个级STG1至STGn的任何重复的详细描述。

多个级STG1至STGn中的每一个可以包括第一时钟端子CT1和第二时钟端子CT2、起始端子ST和输出端子OUT。

第一级STG1可以通过第一时钟端子CT1连接到第一时钟线CL1，可以通过第二时钟端子CT2连接到第三时钟线CL3，并且可以通过起始端子ST连接到第一起始信号线STL1。第一级STG1的第一时钟端子CT1可以从第一时钟线CL1接收第一时钟信号，第一级STG1的第二时钟端子CT2可以从第三时钟线CL3接收第三时钟信号，并且第一级STG1的起始端子ST可以从第一起始信号线STL1接收第一起始信号。第一级STG1的输出端子OUT可以连接到第一扫描线SL1和第三级STG3的起始端子ST。

第二级STG2可以通过第一时钟端子CT1连接到第二时钟线CL2，可以通过第二时钟端子CT2连接到第四时钟线CL4，并且可以通过起始端子ST连接到第二起始信号线STL2。第二级STG2的第一时钟端子CT1可以从第二时钟线CL2接收第二时钟信号，第二级STG2的第二时钟端子CT2可以从第四时钟线CL4接收第四时钟信号，并且第二级STG2的起始端子ST可以从第二起始信号线STL2接收第二起始信号。第二级STG2的输出端子OUT可以连接到第二扫描线SL2和第四级STG4的起始端子ST。

第三级STG3可以通过第一时钟端子CT1连接到第三时钟线CL3，可以通过第二时钟端子CT2连接到第一时钟线CL1，并且可以通过起始端子ST连接到第一级STG1的输出端子OUT。第三级STG3的第一时钟端子CT1可以从第三时钟线CL3接收第三时钟信号，第三级STG3的第二时钟端子CT2可以从第一时钟线CL1接收第一时钟信号，并且第三级STG3的起始端子ST可以接收第一级STG1的输出信号。第三级STG3的输出端子OUT可以连接到第三扫描线SL3和第五级STG5的起始端子ST。

第四级STG4可以通过第一时钟端子CT1连接到第四时钟线CL4，可以通过第二时钟端子CT2连接到第二时钟线CL2，并且可以通过起始端子ST连接到第二级STG2的输出端子OUT。第四级STG4的第一时钟端子CT1可以从第四时钟线CL4接收第四时钟信号，第四级STG4的第二时钟端子CT2可以从第二时钟线CL2接收第二时钟信号，并且第四级STG4的起始端子ST可以接收第二级STG2的输出信号。第四级STG4的输出端子OUT可以连接到第四扫描线SL4和第六级STG6的起始端子ST。

在这样的实施例中，如图5中所示，第(2p-1)级STG(2p-1)(在下文中，p是n/2或更小的自然数)的起始端子ST可以连接到第(2p-3)级STG(2p-3)的输出端子OUT，并且第2p级STG(2p)的起始端子ST可以连接到第(2p-2)级STG(2p-2)的输出端子OUT。因此，第(2p-1)级STG(2p-1)可以接收第(2p-3)级STG(2p-3)的扫描信号，并且第2p级STG(2p)可以接收第(2p-2)级STG(2p-2)的扫描信号。这里，第(2p-1)级STG(2p-1)可以是将扫描信号供给到被设置在奇数行中的像素SP的奇数级，并且第2p级STG(2p)可以是将扫描信号供给到被设置在偶数行中的像素SP的偶数级。

第(2p-1)级STG(2p-1)可以接收第(2p-3)级STG(2p-3)的扫描信号，并且可以通过第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2交替地接收第一时钟信号和第三时钟信号，从而将扫描信号顺序地输出到被设置在奇数行中的像素。第2p级STG(2p)可以接收第(2p-2)级STG(2p-2)的扫描信号，并且可以通过第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2交替地接收第二时钟信号和第四时钟信号，从而将扫描信号顺序地输出到被设置在偶数行中的像素。

当扫描驱动器400从第一起始信号线STL1接收第一起始信号并且没有从第二起始信号线STL2接收第二起始信号时，第(2p-1)级STG(2p-1)可以将扫描信号供给到奇数行中的扫描线SL1、SL3、...、SLn-1，并且第2p级STG(2p)可以不将扫描信号供给到偶数行中的扫描线SL2、SL4、...、SLn。在一个实施例中，例如，在第一像素RP和第二像素BP连接到同一数据线DL，第一像素RP连接到奇数行中的扫描线，并且第二像素BP连接到偶数行中的扫描线的情况下，扫描驱动器400可以基于第一起始信号对第一像素RP和第二像素RP中的第一像素RP执行点亮检查。在这样的实施例中，在第一像素RP和第二像素BP连接到同一数据线DL，第一像素RP连接到奇数行中的扫描线，并且第二像素BP连接到偶数行中的扫描线的情况下，扫描驱动器400可以基于第二起始信号对第一像素RP和第二像素RP中的第二像素BP执行点亮检查。因此，在显示装置10的实施例中，可以选择性地对被设置在多个行中的像素SP当中的奇数行中的像素或偶数行中的像素执行点亮检查，从而充分保证了对应的数据线的充电时间。在显示装置10的实施例中，当对具有高分辨率的多个像素SP执行点亮检查时，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图6是图示出了根据实施例的显示装置中的扫描驱动器的输入/输出信号的波形图。图6的扫描驱动器400的输入/输出信号是在显示装置10的显示模式下提供的信号，并且与在显示装置10的点亮检查模式下提供的信号不同。

参照图6，第一起始信号STS1可以被施加到第一级STG1的起始端子ST，并且第二起始信号STS2可以被施加到第二级STG2的起始端子ST。在一个实施例中，例如，第一起始信号STS1可以在一帧(在图6中是1帧)的第一时段t1期间具有栅低电压，并且第二起始信号STS2可以在一帧的第二时段t2期间具有栅低电压。

第一时钟信号CLK1可以被施加到第(2p-1)级STG(2p-1)(在下文中，p是n/2或更小的自然数)的第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2，并且第二时钟信号CLK2可以被施加到第2p级STG(2p)的第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2。在从一帧的第一时段t1开始的第(4q-3)时段期间(在下文中，q是n/4或更小的自然数)，第一时钟信号CLK1可以具有栅低电压，并且在从一帧的第二时段t2开始的第(4q-2)时段期间，第二时钟信号CLK2可以具有栅低电压。

第三时钟信号CLK3可以被施加到第(2p-1)级STG(2p-1)的第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2，并且第四时钟信号CLK4可以被施加到第2p级STG(2p)的第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2。在从一帧的第三时段t3开始的第(4q-1)时段期间，第三时钟信号CLK3可以具有栅低电压，并且在从一帧的第四时段t4开始的第4q时段期间，第四时钟信号CLK4可以具有栅低电压。

多个级STG1至STGn可以输出多个扫描信号SC1至SCn，多个扫描信号SC1至SCn的相位基于第一起始信号STS1和第二起始信号STS2以及第一时钟信号CLK1至第四时钟信号CLK4被顺序地延迟。多个级STG1至STGn可以通过多条扫描线SL1至SLn将扫描信号SC1至SCn供给到多个像素SP，并且多个像素SP可以基于扫描信号SC1至SCn和数据电压发射具有预定亮度的光。

图7是图示出了图5的显示装置中的奇数级的输入/输出信号的波形图。这里，奇数级可以是在多个级STG1至STGn当中的将扫描信号供给到奇数行中的扫描线SL的第(2p-1)级STG(2p-1)。

参照图7，第一起始信号STS1可以被施加到第一级STG1的起始端子ST，并且第一起始信号STS1可以在一帧的第一时段t1期间具有栅低电压。第一级STG1可以基于第一起始信号STS1以及第一时钟信号CLK1和第三时钟信号CLK3输出第一扫描信号SC1。第一扫描信号SC1可以被施加到第一扫描线SL1和第三级STG3的起始端子ST。

第三级STG3可以基于第一级STG1的第一扫描信号SC1以及第一时钟信号CLK1和第三时钟信号CLK3输出第三扫描信号SC3。第三扫描信号SC3可以被施加到第三扫描线SL3和第五级STG5的起始端子ST。

在实施例中，如上所描述，第(2p-1)级STG(2p-1)可以接收第(2p-3)级STG(2p-3)的扫描信号，并且可以通过第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2交替地接收第一时钟信号和第三时钟信号，从而将扫描信号顺序地输出到被设置在奇数行中的像素SP。

第二起始信号STS2可以被施加到第二级STG2的起始端子ST。当对被设置在奇数行中的像素SP执行点亮检查时，第二起始信号STS2可以在一帧期间维持栅高电压。第二级STG2可以不输出第二扫描信号SC2，并且第2p级STG(2p)可以不输出扫描信号。因此，被设置在偶数行中的像素SP可以维持熄灭状态。

在一个实施例中，例如，在第一像素RP和第二像素BP连接到同一数据线DL，第一像素RP连接到奇数行中的扫描线，并且第二像素BP连接到偶数行中的扫描线的情况下，扫描驱动器400可以基于第一起始信号STS1对第一像素RP和第二像素RP当中的第一像素RP执行点亮检查。因此，在显示装置10的实施例中，可以选择性地对被设置在多个行中的像素SP当中的奇数行中的像素执行点亮检查，从而充分保证了对应的数据线的充电时间。在显示装置10的实施例中，当对具有高分辨率的多个像素SP执行点亮检查时，可以防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图8是图示出了根据实施例的在显示装置中供给点亮电压的过程的图。

参照图8，测试焊盘TP可以包括第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3。第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3可以分别接收第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3。第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3中的每一个可以是开启像素SP的灰度电压或关闭像素SP的黑色电压。第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3中的每一个可以是直流(“DC”)电压，但是不限于此。在一个实施例中，例如，第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3可以连接到点亮装置或电源装置，并且可以接收第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3。

测试晶体管可以包括第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4。第一测试晶体管TT1可以连接在第一测试焊盘TP1与第j数据线DLj之间，并且第二测试晶体管TT2可以连接在第二测试焊盘TP2与第(j+1)数据线DLj+1之间。第三测试晶体管TT3可以连接在第三测试焊盘TP3与第(j+2)数据线DLj+2之间，并且第四测试晶体管TT4可以连接在第二测试焊盘TP2与第(j+3)数据线DLj+3之间。第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个连接在测试焊盘TP中的对应的测试焊盘TP与多条数据线DL中的对应的数据线DL之间，从而选择性地将第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3供给到多条数据线DL。在一个实施例中，例如，第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4可以接收同一测试栅信号TG，并且因此，可以同时导通或截止。

测试栅焊盘TGP可以接收测试栅信号TG，并且可以连接到第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个的栅电极。在一个实施例中，例如，测试栅焊盘TGP可以连接到点亮装置，并且可以从点亮装置接收导通第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4的测试栅信号TG。

图9是图示出了根据实施例的显示装置中的点亮电压和测试栅信号的波形图，并且图10是图示出了图9的显示装置中的第一像素的点亮检查的结果的图。

参照图9和图10，在显示装置10的实施例中，可以对多个像素SP中的一些像素执行点亮检查。在显示装置10的实施例中，第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3可以通过第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3供给，并且测试栅信号TG可以通过测试栅焊盘TGP供给。

第一点亮电压DC1可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持开启像素SP的灰度电压GV。第二点亮电压DC2和第三点亮电压DC3可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持关闭像素SP的黑色电压BV。当像素SP从数据线DL接收灰度电压GV时，像素SP可以开启，并且当像素SP从数据线DL接收黑色电压BV时，像素SP可以关闭。

测试栅信号TG可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持栅低电压VGL。因此，第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个可以接收测试栅信号TG以被导通。

参照图7至图10，当对连接到第一数据线DL1或第j数据线DLj的第一像素RP和第二像素BP中的第一像素RP执行点亮检查时，第一起始信号STS1可以在一帧的第一时段t1期间具有栅低电压VGL，并且第二起始信号STS2可以在一帧期间维持栅高电压VGH。第(2p-1)级STG(2p-1)可以将扫描信号SC1、SC3、SC5、...供给到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...，并且第2p级STG(2p)可以不输出扫描信号。第一点亮电压DC1可以在一帧期间维持灰度电压GV，并且第二点亮电压DC2和第三点亮电压DC3可以在一帧期间维持黑色电压BV。因此，在连接到第一数据线DL1或第j数据线DLj的第一像素RP和第二像素BP中，连接到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...的第一像素RP可以开启，并且连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...的第二像素BP可以关闭。在一个实施例中，例如，在显示装置10中，在开启连接到第一数据线DL1和第一扫描线SL1的第一像素RP之后，通过开启连接到第三扫描线SL3的第一像素RP而不开启连接到第二扫描线SL2的第二像素BP，可以充分保证第一数据线DL1的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图11是图示出了根据替代实施例的显示装置中的点亮电压和测试栅信号的波形图，并且图12是图示出了图11的显示装置中的第二像素的点亮检查的结果的图。

参照图11和图12，在显示装置10的实施例中，可以对多个像素SP中的一些像素执行点亮检查。在显示装置10的实施例中，第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3可以通过第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3供给，并且测试栅信号TG可以通过测试栅焊盘TGP供给。

第一点亮电压DC1和第二点亮电压DC2可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持关闭像素SP的黑色电压BV。第三点亮电压DC3可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持开启像素SP的灰度电压GV。当像素SP从数据线DL接收灰度电压GV时，像素SP可以开启，并且当像素SP从数据线DL接收黑色电压BV时，像素SP可以关闭。

测试栅信号TG可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持栅低电压VGL。因此，第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个可以接收测试栅信号TG以被导通。

参照图7、图8、图11和图12，当对连接到第三数据线DL3或第(j+2)数据线DLj+2的第一像素RP和第二像素BP中的第二像素BP执行点亮检查时，第一起始信号STS1可以在一帧的第一时段t1期间具有栅低电压VGL，并且第二起始信号STS2可以在一帧期间维持栅高电压VGH。第(2p-1)级STG(2p-1)可以将扫描信号SC1、SC3、SC5、...供给到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...，并且第2p级STG(2p)可以不输出扫描信号。第一点亮电压DC1和第二点亮电压DC2可以在一帧期间维持黑色电压BV，并且第三点亮电压DC3可以在一帧期间维持灰度电压GV。因此，在连接到第三数据线DL3或第(j+2)数据线DLj+2的第一像素RP和第二像素BP中，连接到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...的第二像素BP可以开启，并且连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...的第一像素RP可以关闭。在一个实施例中，例如，在显示装置10中，在开启连接到第三数据线DL3和第一扫描线SL1的第二像素BP之后，通过开启连接到第三扫描线SL3的第二像素BP而不开启连接到第二扫描线SL2的第一像素RP，可以充分保证第三数据线DL3的充电时间。在显示装置10中，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图13是图示出了图5的显示装置中的偶数级的输入/输出信号的波形图。这里，偶数级可以是在多个级STG1至STGn当中的将扫描信号供给到偶数行中的扫描线SL的第2p级STG(2p)。

参照图13，第二起始信号STS2可以被施加到第二级STG2的起始端子ST，并且第二起始信号STS2可以在一帧的第二时段t2期间具有栅低电压。第二级STG2可以基于第二起始信号STS2以及第二时钟信号CLK2和第四时钟信号CLK4输出第二扫描信号SC2。第二扫描信号SC2可以被施加到第二扫描线SL2和第四级STG4的起始端子ST。

第四级STG4可以基于第二级STG2的第二扫描信号SC2以及第二时钟信号CLK2和第四时钟信号CLK4输出第四扫描信号SC4。第四扫描信号SC4可以被施加到第四扫描线SL4和第六级STG6的起始端子ST。

在这样的实施例中，如上所描述，第2p级STG(2p)可以接收第(2p-2)级STG(2p-2)的扫描信号，并且可以通过第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2交替地接收第二时钟信号和第四时钟信号，从而将扫描信号顺序地输出到被设置在偶数行中的像素。

第一起始信号STS1可以被施加到第一级STG1的起始端子ST。当对被设置在偶数行中的像素SP执行点亮检查时，第一起始信号STS1可以在一帧期间维持栅高电压。第一级STG1可以不输出第一扫描信号SC1，并且第(2p-1)级STG(2p-1)可以不输出扫描信号。因此，被设置在奇数行中的像素SP可以维持熄灭状态。

在一个实施例中，例如，当第一像素RP和第二像素BP连接到同一数据线DL，第一像素RP连接到奇数行中的扫描线，并且第二像素BP连接到偶数行中的扫描线时，扫描驱动器400可以基于第二起始信号对第一像素RP和第二像素BP中的第二像素BP执行点亮检查。如上所描述，在显示装置10的实施例中，可以选择性地对被设置在多个行中的像素SP当中的偶数行中的像素执行点亮检查，从而充分保证了对应的数据线的充电时间。在显示装置10的实施例中，当对具有高分辨率的多个像素SP执行点亮检查时，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图14是图示出了图13的显示装置中的第二像素的点亮检查的结果的图。

参照图14以及图8、图9和图13，在显示装置10的实施例中，可以对多个像素SP中的一些像素执行点亮检查。在显示装置10的实施例中，第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3可以通过第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3供给，并且测试栅信号TG可以通过测试栅焊盘TGP供给。

第一点亮电压DC1可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持开启像素SP的灰度电压GV。第二点亮电压DC2和第三点亮电压DC3可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持关闭像素SP的黑色电压BV。当像素SP从数据线DL接收灰度电压GV时，像素SP可以开启，并且当像素SP从数据线DL接收黑色电压BV时，像素SP可以关闭。

测试栅信号TG可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持栅低电压VGL。因此，第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个可以接收测试栅信号TG以被导通。

当对连接到第一数据线DL1或第j数据线DLj的第一像素RP和第二像素BP中的第二像素BP执行点亮检查时，第二起始信号STS2可以在一帧的第二时段t2期间具有栅低电压VGL，并且第一起始信号STS1可以在一帧期间维持栅高电压VGH。第2p级STG(2p)可以将扫描信号SC2、SC4、SC6、...供给到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...，并且第(2p-1)级STG(2p-1)可以不输出扫描信号。第一点亮电压DC1可以在一帧期间维持灰度电压GV，并且第二点亮电压DC2和第三点亮电压DC3可以在一帧期间维持黑色电压BV。因此，在连接到第一数据线DL1或第j数据线DLj的第一像素RP和第二像素BP中，连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...的第二像素BP可以开启，并且连接到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...的第一像素RP可以关闭。在一个实施例中，例如，在显示装置10中，在开启连接到第一数据线DL1和第二扫描线SL2的第二像素BP之后，通过开启连接到第四扫描线SL4的第二像素BP而不开启连接到第三扫描线SL3的第一像素RP，可以充分保证第一数据线DL1的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图15是图示出了图13的显示装置中的第一像素的点亮检查的结果的图。

参照图15以及图8、图11和图13，在显示装置10的实施例中，可以对多个像素SP中的一些像素执行点亮检查。在显示装置10的实施例中，第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3可以通过第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3供给，并且测试栅信号TG可以通过测试栅焊盘TGP供给。

第一点亮电压DC1和第二点亮电压DC2可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持关闭像素SP的黑色电压BV。第三点亮电压DC3可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持开启像素SP的灰度电压GV。当像素SP从数据线DL接收灰度电压GV时，像素SP可以开启，并且当像素SP从数据线DL接收黑色电压BV时，像素SP可以关闭。

测试栅信号TG可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持栅低电压VGL。因此，第一测试晶体管TT1至第四测试晶体管TT4中的每一个可以接收测试栅信号TG以被导通。

当对连接到第三数据线DL3或第(j+2)数据线DLj+2的第一像素RP和第二像素BP中的第一像素RP执行点亮检查时，第二起始信号STS2可以在一帧的第二时段t2期间具有栅低电压VGL，并且第一起始信号STS1可以在一帧期间维持栅高电压VGH。第2p级STG(2p)可以将扫描信号SC2、SC4、SC6、...供给到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...，并且第(2p-1)级STG(2p-1)可以不输出扫描信号。第一点亮电压DC1和第二点亮电压DC2可以在一帧期间维持黑色电压BV，并且第三点亮电压DC3可以在一帧期间维持灰度电压GV。因此，在连接到第三数据线DL3或第(j+2)数据线DLj+2的第一像素RP和第二像素BP中，连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...的第一像素RP可以开启，并且连接到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...的第二像素BP可以关闭。在一个实施例中，例如，在显示装置10中，在开启连接到第三数据线DL3和第二扫描线SL2的第一像素RP之后，通过开启连接到第四扫描线SL4的第一像素RP而不开启连接到第三扫描线SL3的第二像素BP，可以充分保证第三数据线DL3的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图16是图示出了根据替代实施例的显示装置的扫描驱动器的框图。

除了起始信号线STL之外，图16的显示装置的扫描驱动器与图5的显示装置的扫描驱动器基本上相同。因此，在下文中将省略或简化与以上参照图5描述的元件相同或相似的元件的任何重复的详细描述。

参照图16，扫描驱动电路410的实施例可以包括第一扫描驱动电路411和第二扫描驱动电路412。第一扫描驱动电路411可以被布置在显示面板100的一侧，并且可以包括多个级STG1至STGn。第二扫描驱动电路412可以被布置在显示面板100的另一侧，并且可以包括多个级STG1至STGn。在一个实施例中，例如，第一扫描驱动电路411和第二扫描驱动电路412可以分别被布置在显示面板100的相对两侧，以输出相同的扫描信号，但是本发明不限于此。

多个级STG1至STGn中的每一个可以包括第一时钟端子CT1和第二时钟端子CT2、起始端子ST和输出端子OUT。

第一级STG1可以通过第一时钟端子CT1连接到第一时钟线CL1，可以通过第二时钟端子CT2连接到第三时钟线CL3，并且可以通过起始端子ST连接到起始信号线STL。第一级STG1的第一时钟端子CT1可以从第一时钟线CL1接收第一时钟信号，第一级STG1的第二时钟端子CT2可以从第三时钟线CL3接收第三时钟信号，并且第一级STG1的起始端子ST可以从起始信号线STL接收起始信号。第一级STG1的输出端子OUT可以连接到第一扫描线SL1和第三级STG3的起始端子ST。

第二级STG2可以通过第一时钟端子CT1连接到第二时钟线CL2，可以通过第二时钟端子CT2连接到第四时钟线CL4，并且可以通过起始端子ST连接到起始信号线STL。第二级STG2的第一时钟端子CT1可以从第二时钟线CL2接收第二时钟信号，第二级STG2的第二时钟端子CT2可以从第四时钟线CL4接收第四时钟信号，并且第二级STG2的起始端子ST可以从起始信号线STL接收起始信号。第二级STG2的输出端子OUT可以连接到第二扫描线SL2和第四级STG4的起始端子ST。

第(2p-1)级STG(2p-1)的起始端子ST可以连接到第(2p-3)级STG(2p-3)的输出端子OUT，并且第2p级STG(2p)的起始端子ST可以连接到第(2p-2)级STG(2p-2)的输出端子OUT。因此，第(2p-1)级STG(2p-1)可以接收第(2p-3)级STG(2p-3)的扫描信号，并且第2p级STG(2p)可以接收第(2p-2)级STG(2p-2)的扫描信号。这里，第(2p-1)级STG(2p-1)可以是将扫描信号供给到被设置在奇数行中的像素SP的奇数级，并且第2p级STG(2p)可以是将扫描信号供给到被设置在偶数行中的像素SP的偶数级。

第(2p-1)级STG(2p-1)可以接收第(2p-3)级STG(2p-3)的扫描信号，并且可以通过第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2交替地接收第一时钟信号和第三时钟信号，从而将扫描信号顺序地输出到被设置在奇数行中的像素。第2p级STG(2p)可以接收第(2p-2)级STG(2p-2)的扫描信号，并且可以通过第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2交替地接收第二时钟信号和第四时钟信号，从而将扫描信号顺序地输出到被设置在偶数行中的像素。

当扫描驱动器400从起始信号线STL接收在第一时段t1期间具有栅低电压并且在第二时段t2期间具有栅高电压的起始信号时，第(2p-1)级STG(2p-1)可以将扫描信号供给到奇数行中的扫描线SL1、SL3、...、SLn-1，并且第2p级STG(2p)可以不将扫描信号供给到偶数行中的扫描线SL2、SL4、...、SLn。

在一个实施例中，例如，在第一像素RP和第二像素BP连接到同一数据线DL，第一像素RP连接到奇数行中的扫描线，并且第二像素BP连接到偶数行中的扫描线的情况下，扫描驱动器400可以基于仅在第一时段t1期间具有栅低电压的起始信号对第一像素RP和第二像素BP中的第一像素RP执行点亮检查。在这样的实施例中，在第一像素RP和第二像素BP连接到同一数据线DL，第一像素RP连接到奇数行中的扫描线，并且第二像素BP连接到偶数行中的扫描线的情况下，扫描驱动器400可以基于仅在第二时段t2期间具有栅低电压的起始信号对第一像素RP和第二像素BP中的第二像素BP执行点亮检查。因此，由于显示装置10包括连接到一条起始信号线STL以控制起始信号具有栅低电压的时序的多个级STG1至STGn，因此可以选择性地对被设置在多个行中的像素SP当中的奇数行中的像素或偶数行中的像素执行点亮检查，从而充分保证对应的数据线的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，可以防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图17是图示出了图16的显示装置中的奇数级的输入/输出信号的波形图。

除了起始信号STS之外，图17的奇数级的输入/输出信号与图7的奇数级的输入/输出信号基本上相同。因此，在下文中将省略或简化与以上参照图7描述的元件相同或相似的元件的任何重复的详细描述。

参照图17，起始信号STS可以被施加到第一级STG1的起始端子ST和第二级STG2的起始端子ST。当对被设置在奇数行中的像素SP执行点亮检查时，起始信号STS可以在一帧的第一时段t1期间具有栅低电压，并且可以在一帧的第二时段t2期间具有栅高电压。第一级STG1可以基于在第一时段t1期间具有栅低电压的起始信号STS以及第一时钟信号CLK1和第三时钟信号CLK3来输出第一扫描信号SC1。第一扫描信号SC1可以被施加到第一扫描线SL1和第三级STG3的起始端子ST。

第二级STG2可以接收在第二时段t2期间具有栅高电压的起始信号，并且可以不输出第二扫描信号SC2。因此，被设置在偶数行中的像素SP可以维持熄灭状态。

第三级STG3可以基于第一级STG1的第一扫描信号SC1以及第一时钟信号CLK1和第三时钟信号CLK3输出第三扫描信号SC3。第三扫描信号SC3可以被施加到第三扫描线SL3和第五级STG5的起始端子ST。

在这样的实施例中，如上所描述，第(2p-1)级STG(2p-1)可以接收第(2p-3)级STG(2p-3)的扫描信号，并且可以通过第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2交替地接收第一时钟信号和第三时钟信号，从而将扫描信号顺序地输出到被设置在奇数行中的像素。

在一个实施例中，例如，在第一像素RP和第二像素BP连接到同一数据线DL，第一像素RP连接到奇数行中的扫描线，并且第二像素BP连接到偶数行中的扫描线的情况下，扫描驱动器400可以基于在第一时段t1期间具有栅低电压的起始信号STS对第一像素RP和第二像素BP中的第一像素RP执行点亮检查。如上所描述，在显示装置10的实施例中，可以选择性地对被设置在多个行中的像素SP当中的奇数行中的像素执行点亮检查，从而充分保证了对应的数据线的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，当对具有高分辨率的多个像素SP执行点亮检查时，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图18是图示出了图16的显示装置中的偶数级的输入/输出信号的波形图。

除了起始信号STS之外，图18的偶数级的输入/输出信号与图13的偶数级的输入/输出信号基本上相同。因此，在下文中将省略或简化与以上参照图13描述的元件相同或相似的元件的任何重复的详细描述。

参照图18，起始信号STS可以被施加到第一级STG1的起始端子ST和第二级STG2的起始端子ST。当对被设置在偶数行中的像素SP执行点亮检查时，起始信号STS可以在一帧的第一时段t1期间具有栅高电压，并且可以在一帧的第二时段t2期间具有栅低电压。第二级STG2可以基于在第二时段t2期间具有栅低电压的起始信号STS以及第二时钟信号CLK2和第四时钟信号CLK4来输出第二扫描信号SC2。第二扫描信号SC2可以被施加到第二扫描线SL2和第四级STG4的起始端子ST。

第一级STG1可以接收在第一时段t1期间具有栅高电压的起始信号，并且可以不输出第一扫描信号SC1。因此，被设置在奇数行中的像素SP可以维持熄灭状态。

第四级STG4可以基于第二级STG2的第二扫描信号SC2以及第二时钟信号CLK2和第四时钟信号CLK4输出第四扫描信号SC4。第四扫描信号SC4可以被施加到第四扫描线SL4和第六级STG6的起始端子ST。

如上所描述，第2p级STG(2p)可以接收第(2p-2)级STG(2p-2)的扫描信号，并且可以通过第一时钟端子CT1或第二时钟端子CT2交替地接收第二时钟信号和第四时钟信号，从而将扫描信号顺序地输出到被设置在偶数行中的像素。

在一个实施例中，例如，在第一像素RP和第二像素BP连接到同一数据线DL，第一像素RP连接到奇数行中的扫描线，并且第二像素BP连接到偶数行中的扫描线的情况下，扫描驱动器400可以基于在第二时段t2期间具有栅低电压的起始信号STS对第一像素RP和第二像素BP中的第二像素BP执行点亮检查。如上所描述，在显示装置10的实施例中，可以选择性地对被设置在多个行中的像素SP当中的偶数行中的像素执行点亮检查，从而充分保证了对应的数据线的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，当对具有高分辨率的多个像素SP执行点亮检查时，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

图19是根据替代实施例的显示装置的平面图，并且图20是图示出了根据替代实施例的在显示装置中供给点亮电压的过程的图。

除了测试晶体管和测试栅焊盘以外，图19和图20的显示装置与图2和图8的显示装置基本上相同。因此，在下文中将省略或简化与以上参照图2和图8描述的元件相同或相似的元件的任何重复的详细描述。

参照图19和图20，在显示装置的实施例中，测试焊盘TP可以包括第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3。第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3可以分别接收第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3。第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3中的每一个可以是开启像素SP的灰度电压或关闭像素SP的黑色电压。第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3中的每一个可以是DC电压，但是不限于此。在一个实施例中，例如，第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3可以连接到点亮装置或电源装置，并且可以接收第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3。

测试晶体管可以包括第一测试晶体管TT1至第六测试晶体管TT6。第一测试晶体管TT1的栅电极可以连接到第一测试栅焊盘TGP1。第一测试晶体管TT1可以连接在第一测试焊盘TP1与第j数据线DLj之间。第一测试晶体管TT1可以基于从第一测试栅焊盘TGP1接收的第一测试栅信号TG1，选择性地将第一点亮电压DC1供给到第j数据线DLj。

第二测试晶体管TT2的栅电极可以连接到第二测试栅焊盘TGP2。第二测试晶体管TT2可以连接在第一测试焊盘TP1与第(j+2)数据线DLj+2之间。第二测试晶体管TT2可以基于从第二测试栅焊盘TGP2接收的第二测试栅信号TG2，选择性地将第一点亮电压DC1供给到第(j+2)数据线DLj+2。

第三测试晶体管TT3的栅电极可以连接到第一测试栅焊盘TGP1。第三测试晶体管TT3可以连接在第三测试焊盘TP3与第(j+2)数据线DLj+2之间。第三测试晶体管TT3可以基于从第一测试栅焊盘TGP1接收的第一测试栅信号TG1，选择性地将第三点亮电压DC3供给到第(j+2)数据线DLj+2。

第四测试晶体管TT4的栅电极可以连接到第二测试栅焊盘TGP2。第四测试晶体管TT4可以连接在第三测试焊盘TP3与第j数据线DLj之间。第四测试晶体管TT4可以基于从第二测试栅焊盘TGP2接收的第二测试栅信号TG2，选择性地将第三点亮电压DC3供给到第j数据线DLj。

第五测试晶体管TT5和第六测试晶体管TT6中的每一个的栅电极可以连接到第三测试栅焊盘TGP3。第五测试晶体管TT5可以连接在第二测试焊盘TP2与第(j+1)数据线DLj+1之间，并且第六测试晶体管TT6可以连接在第二测试焊盘TP2与第(j+3)数据线DLj+3之间。第五测试晶体管TT5可以基于从第三测试栅焊盘TGP3接收的第三测试栅信号TG3，选择性地将第二点亮电压DC2供给到第(j+1)数据线DLj+1。第六测试晶体管TT6可以基于从第三测试栅焊盘TGP3接收的第三测试栅信号TG3，选择性地将第二点亮电压DC2供给到第(j+3)数据线DLj+3。

第一测试晶体管TT1至第六测试晶体管TT6中的每一个可以连接在测试焊盘TP中的对应的测试焊盘TP与多条数据线DL中的对应的数据线DL之间，从而选择性地将第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3供给到多条数据线DL。

第一测试栅焊盘至第三测试栅焊盘TGP1、TGP2和TGP3可以分别接收第一测试栅信号至第三测试栅信号TG1、TG2和TG3。第一测试栅焊盘至第三测试栅焊盘TGP1、TGP2和TGP3中的每一个可以连接到选自第一测试晶体管TT1至第六测试晶体管TT6中的至少一个晶体管的栅电极。在一个实施例中，例如，测试栅焊盘TGP可以连接到点亮装置，并且可以从点亮装置接收导通第一测试晶体管TT1至第六测试晶体管TT6的测试栅信号。

图21是图示出了根据实施例的显示装置中的点亮电压和测试栅信号的波形图。

参照图21，在显示装置10的实施例中，可以对多个像素SP中的一些像素执行点亮检查。在显示装置10的实施例中，第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3可以通过第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3供给，并且第一测试栅信号至第三测试栅信号TG1、TG2和TG3可以通过第一测试栅焊盘至第三测试栅焊盘TGP1、TGP2和TGP3供给。

第一点亮电压DC1可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持开启像素SP的灰度电压GV。第二点亮电压DC2和第三点亮电压DC3可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持关闭像素SP的黑色电压BV。当像素SP从数据线DL接收灰度电压GV时，这些像素SP可以开启，并且当像素SP从数据线DL接收黑色电压BV时，这些像素SP可以关闭。

第一测试栅信号TG1可以在第一时段t1、第三时段t3、第五时段t5和第七时段t7期间维持栅低电压VGL，并且可以在第二时段t2、第四时段t4、第六时段t6和第八时段t8期间维持栅高电压VGH。第二测试栅信号TG2可以在第一时段t1、第三时段t3、第五时段t5和第七时段t7期间维持栅高电压VGH，并且可以在第二时段t2、第四时段t4、第六时段t6和第八时段t8期间维持栅低电压VGL。

参照图10、图17、图20和图21，当对连接到第一数据线DL1或第j数据线DLj的第一像素RP和第二像素BP中的第一像素RP执行点亮检查时，起始信号STS可以在一帧的第一时段t1期间具有栅低电压VGL，并且可以在一帧的第二时段t2期间具有栅高电压VGH。第(2p-1)级STG(2p-1)可以将扫描信号SC1、SC3、SC5、...供给到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...，并且第2p级STG(2p)可以不输出扫描信号。第一点亮电压DC1可以在一帧期间维持灰度电压GV，并且第二点亮电压DC2和第三点亮电压DC3可以在一帧期间维持黑色电压BV。因此，在连接到第一数据线DL1或第j数据线DLj的第一像素RP和第二像素BP中，连接到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...的第一像素RP可以开启，并且连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...的第二像素BP可以关闭。在一个实施例中，例如，在显示装置10中，在开启连接到第一数据线DL1和第一扫描线SL1的第一像素RP之后，通过开启连接到第三扫描线SL3的第一像素RP而不开启连接到第二扫描线SL2的第二像素BP，可以充分保证第一数据线DL1的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

在替代实施例中，在显示装置10包括图7的第一起始信号STS1的配置而不是图17的起始信号STS的配置的情况下，可以获得图10的点亮检查结果。

参照图14、图18、图20和图21，当对连接到第一数据线DL1或第j数据线DLj的第一像素RP和第二像素BP中的第二像素BP执行点亮检查时，起始信号STS可以在一帧的第一时段t1期间具有栅高电压VGH，并且可以在一帧的第二时段t2期间具有栅低电压VGL。第2p级STG(2p)可以将扫描信号SC2、SC4、SC6、...供给到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...，并且第(2p-1)级STG(2p-1)可以不输出扫描信号。第一点亮电压DC1可以在一帧期间维持灰度电压GV，并且第二点亮电压DC2和第三点亮电压DC3可以在一帧期间维持黑色电压BV。因此，在连接到第一数据线DL1或第j数据线DLj的第一像素RP和第二像素BP中，连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...的第二像素BP可以开启，并且连接到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...的第一像素RP可以关闭。在一个实施例中，例如，在显示装置10中，在开启连接到第一数据线DL1和第二扫描线SL2的第二像素BP之后，通过开启连接到第四扫描线SL4的第二像素BP而不开启连接到第三扫描线SL3的第一像素RP，可以充分保证第一数据线DL1的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

在替代实施例中，在显示装置10包括图13的第二起始信号STS2的配置而不是图18的起始信号STS的配置的情况下，可以获得图14的点亮检查结果。

图22是图示出了根据替代实施例的显示装置中的点亮电压和测试栅信号的波形图。

参照图22，在显示装置10的实施例中，可以对多个像素SP中的一些像素执行点亮检查。在显示装置10中，第一点亮电压至第三点亮电压DC1、DC2和DC3可以通过第一测试焊盘至第三测试焊盘TP1、TP2和TP3供给，并且第一测试栅信号至第三测试栅信号TG1、TG2和TG3可以通过第一测试栅焊盘至第三测试栅焊盘TGP1、TGP2和TGP3供给。

第一点亮电压DC1和第二点亮电压DC2可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持关闭像素SP的黑色电压BV。第三点亮电压DC3可以在一帧期间或在第一时段t1至第八时段t8期间维持开启像素SP的灰度电压GV。当像素SP从数据线DL接收灰度电压GV时，这些像素SP可以开启，并且当像素SP从数据线DL接收黑色电压BV时，这些像素SP可以关闭。

第一测试栅信号TG1可以在第一时段t1、第三时段t3、第五时段t5和第七时段t7期间维持栅低电压VGL，并且可以在第二时段t2、第四时段t4、第六时段t6和第八时段t8期间维持栅高电压VGH。第二测试栅信号TG2可以在第一时段t1、第三时段t3、第五时段t5和第七时段t7期间维持栅高电压VGH，并且可以在第二时段t2、第四时段t4、第六时段t6和第八时段t8期间维持栅低电压VGL。

参照图12、图17、图20和图21，当对连接到第三数据线DL3或第(j+2)数据线DLj+2的第一像素RP和第二像素BP中的第二像素BP执行点亮检查时，起始信号STS可以在一帧的第一时段t1期间具有栅低电压VGL，并且可以在一帧的第二时段t2期间具有栅高电压VGH。第(2p-1)级STG(2p-1)可以将扫描信号SC1、SC3、SC5、...供给到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...，并且第2p级STG(2p)可以不输出扫描信号。第一点亮电压DC1和第二点亮电压DC2可以在一帧期间维持黑色电压BV，并且第三点亮电压DC3可以在一帧期间维持灰度电压GV。因此，在连接到第三数据线DL3或第(j+2)数据线DLj+2的第一像素RP和第二像素BP中，连接到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...的第二像素BP可以开启，并且连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...的第一像素RP可以关闭。在一个实施例中，例如，在显示装置10中，在开启连接到第三数据线DL3和第一扫描线SL1的第二像素BP之后，通过开启连接到第三扫描线SL3的第二像素BP而不开启连接到第二扫描线SL2的第一像素RP，可以充分保证第三数据线DL3的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

在替代实施例中，在显示装置10包括图7的第一起始信号STS1的配置而不是图17的起始信号STS的配置的情况下，可以获得图10的点亮检查结果。

参照图15、图18、图20和图21，当对连接到第三数据线DL3或第(j+2)数据线DLj+2的第一像素RP和第二像素BP中的第一像素RP执行点亮检查时，起始信号STS可以在一帧的第一时段t1期间具有栅高电压VGH，并且可以在一帧的第二时段t2期间具有栅低电压VGL。第2p级STG(2p)可以将扫描信号SC2、SC4、SC6、...供给到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...，并且第(2p-1)级STG(2p-1)可以不输出扫描信号。第一点亮电压DC1和第二点亮电压DC2可以在一帧期间维持黑色电压BV，并且第三点亮电压DC3可以在一帧期间维持灰度电压GV。因此，在连接到第三数据线DL3或第(j+2)数据线DLj+2的第一像素RP和第二像素BP中，连接到偶数行中的扫描线SL2、SL4、SL6、...的第一像素RP可以开启，并且连接到奇数行中的扫描线SL1、SL3、SL5、...的第二像素BP可以关闭。在一个实施例中，例如，在显示装置10中，在开启连接到第三数据线DL3和第二扫描线SL2的第一像素RP之后，通过开启连接到第四扫描线SL4的第一像素RP而不开启连接到第三扫描线SL3的第二像素BP，可以充分保证第三数据线DL3的充电时间。在显示装置10的这样的实施例中，可以有效地防止第一像素RP与第二像素BP之间的颜色混合，并且可以提高点亮检查的可靠性。

在替代实施例中，在显示装置10包括图13的第二起始信号STS2的配置而不是图18的起始信号STS的配置的情况下，可以获得图14的点亮检查结果。

根据显示装置的实施例，如本文中所描述，显示装置可以包括连接到同一数据线以发射彼此不同的颜色的光的第一像素和第二像素以及将扫描信号供给到第一像素和第二像素中的一个的扫描驱动器。当点亮电压被供给到数据线时，显示装置可以将点亮电压供给到第一像素和第二像素中的一个，并且充分保证数据线的充电时间。因此，显示装置可以有效地防止第一像素与第二像素之间的颜色混合，并且可以提高第一像素和第二像素的点亮检查的可靠性。

本发明不应被解释为限于在本文中阐述的实施例。相反，提供这些实施例使得本公开将是透彻的和完整的，并将向本领域技术人员充分传达本发明的构思。

尽管已经参考本发明的实施例具体地示出和描述了本发明，但是本领域普通技术人员将理解，在不脱离由所附权利要求所限定的本发明的精神或范围的情况下，可以在形式和细节上进行各种改变。