具体实施方式

为使本公开的目的.技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本公开实施方式作进一步地详细描述。

本公开的实施方式部分使用的术语仅用于对本公开的实施例进行解释，而非旨在限定本公开。除非另作定义，本公开的实施方式使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开专利申请说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”、“第三”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现在“包括”或者“包含”前面的元件或者物件涵盖出现在“包括”或者“包含”后面列举的元件或者物件及其等同，并不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则所述相对位置关系也可能相应地改变。在本公开实施例中提及的“和/或”，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

图1是本公开实施例提供的一种显示面板的结构示意图。如图1所示，该显示面板包括：衬底基板01，该衬底基板01具有沿第一方向X1排布的显示区A1和第一非显示区B1。本公开实施例记载的“排布”可以是指依次且间隔排布。

图2是本公开实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。结合图1和图2可以看出，该显示面板还包括：位于显示区A1的多条检测线(sense line)SL，以及位于第一非显示区B1的多条检测线引线S0，检测信号传输线S1和至少两个第一检测探针PAD1。检测探针也可以称为检测焊盘。

其中，检测线SL沿第一方向X1延伸，检测线引线S0沿第一方向X1延伸，检测信号传输线S1沿第二方向X2延伸。第二方向X2与第一方向X1可以相交，即不平行。

可选的，在本公开实施例中，如图2所示，可以是显示面板包括的多条检测线SL中，每条检测线SL均沿第一方向X1延伸，此时，该多条检测线SL可以是沿第二方向X2依次排布。同理，可以是显示面板包括的多条检测线引线S0中，每条检测线引线S0均沿第一方向X1延伸，此时，该多条检测线引线S0可以是沿第二方向X2依次排布。当然，在一些实施例中，可以仅部分检测线SL中的各条检测线SL沿第一方向X1延伸，以及可以仅部分检测线引线S0中的各条检测线引线S0沿第一方向X1延伸。本公开实施例对此不做限定。

继续参考图2，至少两个第一检测探针PAD1分别与检测信号传输线S1的一端和中间位置耦接(即，电连接)。检测信号传输线S1还可以与多条检测线引线S0耦接，至少部分多条检测线引线S0可以与多条检测线SL一一对应耦接。换言之，一条检测线SL可以通过一条检测线引线S0与检测信号传输线S1耦接。

可选的，参考图2，至少两个第一检测探针PAD1分别与检测信号传输线S1的一端和中间位置耦接可以是指：至少两个第一检测探针PAD1中，一个第一检测探针PAD1耦接于检测信号传输线S1的首端和末端中的任一端，其余第一检测探针PAD1分别耦接于检测信号传输线S1的中间不同位置处。

在本公开实施例中，检测信号传输线S1用于将第一检测探针PAD1提供的探测信号经检测线引线S0传输至检测线SL，以及向第一检测探针PAD1传输检测线SL经检测线引线S0传输的检测信号。即，检测信号传输线S1可以将第一检测探针PAD1提供的探测信号先传输至检测线引线S0，再由检测线引线S0将探测信号进一步传输至检测线SL。检测线SL可以将检测信号先传输至检测线引线S0，再由检测线引线S0将检测信号进一步传输至第一检测探针PAD1。

可选的，显示面板中一般还包括阵列排布的多个像素电路和多个发光元件，多个像素电路与多个发光元件一一对应耦接。一条检测线SL可以与一列像素电路耦接。第一检测探针PAD1还可以与检测设备耦接。第一检测探针PAD1提供的探测信号可以为进行基板测试时，检测设备向第一检测探针PAD1传输的信号。检测线SL可以将接收到的探测信号进一步传输至所耦接的像素电路，以驱动像素电路工作。第一检测探针PAD1接收到的检测信号可以为检测线SL采集的像素电路上的电信号，且第一检测探针PAD1可以将该检测信号进一步传输至检测设备，以供检测设备可靠检测像素电路是否处于正常工作状态。

由于在本公开实施例中，设置了至少两个第一检测探针PAD1分别与检测信号传输线S1的一端和中间位置耦接，即设置了多个不同的第一检测探针PAD1分别于不同位置处采集探测信号，因此对于第一检测探针PAD1而言，其提供的检测信号仅需经较短长度的信号线即可传输至像素电路，且探测信号均仅需经较短长度的信号线即可传输至该第一检测探针PAD1。此外，由于信号线长度越短，寄生电阻和寄生电容越小，电压降(IR drop)越小，因此使得传输至像素电路的检测信号受电压降影响偏差较小，以及使得传输至第一检测探针PAD1的探测信号受电压降影响偏差较小。相应的，检测设备可以可靠采集到探测信号，并基于探测信号精确检测像素电路的工作状态。

需要说明的是，检测信号传输线S1的中间位置可以是指区别于首端和末端的中间任一位置。且，若仅包括耦接于中间位置的一个第一检测探针PAD1，则结合图2，该中间位置一般可以是检测信号传输线S1的正中间位置；或者，该中间位置相对于耦接有第一检测探针PAD1的一端的距离大于相对于未耦接有第一检测探针PAD1的另一端的距离。如，对于图2所示结构而言，该中间位置可以为靠近未耦接有第一检测探针PAD1的另一端的偏右的位置。若包括耦接于中间位置的多个第一检测探针PAD1，则每相邻两个第一检测探针PAD1之间的间距可以大于间距阈值，即每相邻两个第一检测探针PAD1之间的间距可以相对较大。如此，可以有效确保检测设备可以从检测探针处可靠采集到探测信号。

综上所述，本公开实施例提供了一种显示面板。该显示面板包括多条检测线，与该多条检测线一一对应耦接的多条检测线引线，与该多条检测线引线耦接的检测信号传输线，以及分别耦接至该检测信号传输线的一端和中间位置处的至少两个第一检测探针。如此，相对于仅设置一个检测探针耦接检测信号传输线而言，可以使得探测信号经较短的信号线传输至检测探针，进而传输至检测探针的探测信号受电压降影响出现的偏差较低。相应的，检测设备可以从检测探针处可靠采集到探测信号，并基于探测信号对显示面板进行精确检测。

可选的，图3是本公开实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。结合图1和图3可以看出，本公开实施例记载的显示面板可以包括：至少三个第一检测探针PAD1。该至少三个第一检测探针PAD1可以分别与检测信号传输线S1的一端、中间位置和另一端耦接。

可选的，参考图3，至少三个第一检测探针PAD1分别与检测信号传输线S1的一端、中间位置和另一端耦接可以是指：至少三个第一检测探针PAD1中，一个第一检测探针PAD1耦接于检测信号传输线S1的首端和末端中的一端，一个第一检测探针PAD1耦接于检测信号传输线S1的首端和末端中的另一端，其余第一检测探针PAD1分别耦接于检测信号传输线S1的中间不同位置处。如此，可以进一步使得传输至像素电路的多个检测信号受电压降影响偏差较小，以及使得传输至各个第一检测探针PAD1的探测信号受电压降影响偏差较小。

对于检测信号传输线S1的一端和另一端均耦接有一个第一检测探针PAD1的结构而言，若仅包括耦接于中间位置的一个第一检测探针PAD1，则此时该中间位置一般为检测信号传输线S1的正中间位置。

当然，在一些实施例中，参考图3所示结构，该中间位置可以为靠近检测信号传输线S1的一端的偏左的位置，或，可以为靠近检测信号传输线S1的一端的偏右的位置，本公开实施例对此不做限定。

可选的，若包括三个以上的第一检测探针PAD1，则任意相邻两个第一检测探针PAD1所耦接的位置之间的间距可以均为目标间距。即，参考图3所示结构，第一个第一检测探针PAD1耦接于检测信号传输线S1上的位置和相邻的第二个第一检测探针PAD1耦接于检测信号传输线S1上的位置之间的间距，与第二个第一检测探针PAD1耦接于检测信号传输线S1上的位置和相邻的第三个第一检测探针PAD1耦接于检测信号传输线S1上的位置之间的间距相等。如此，可以确保信号传输的均一性。

可选的，参考上述附图可以看出，本公开实施例记载的第一方向X1与第二方向X2可以相互垂直。

图4是本公开实施例提供的又一种显示面板的结构示意图。结合图1和图4可以看出，显示面板还可以包括：位于显示区A1的多条电源线VDD，以及位于第一非显示区B1的多条电源线引线V0，电源信号传输线V1和至少三个第二检测探针PAD2。

其中，电源线VDD可以沿第一方向X1延伸，电源线引线V0可以沿第一方向X1延伸，电源信号传输线V1可以沿第二方向X2延伸。

可选的，在本公开实施例中，如图4所示，可以是显示面板包括的多条电源线VDD中，每条电源线VDD均沿第一方向X1延伸，此时，该多条电源线VDD可以是沿第二方向X2依次排布。同理，可以是显示面板包括的多条电源线引线V0中，每条电源线引线V0均沿第一方向X1延伸，此时，该多条电源线引线V0可以是沿第二方向X2依次排布。当然，在一些实施例中，可以仅部分电源线VDD中的各条电源线VDD沿第一方向X1延伸，以及可以仅部分电源线引线V0中的各条电源线引线V0沿第一方向X1延伸。

继续参考图4，至少三个第二检测探针PAD2可以分别与电源信号传输线V1的一端、另一端和中间位置耦接。电源信号传输线V1还可以与多条电源线引线V0耦接，至少部分多条电源线引线V0可以与多条电源线VDD一一对应耦接。换言之，一条电源线VDD可以通过一条电源线引线V0与电源信号传输线V1耦接。电源信号传输线V1的中间位置可以参考上述实施例对检测信号传输线S1的中间位置的说明，在此不再赘述。

可选的，参考图4，至少三个第二检测探针PAD2分别与电源信号传输线V1的一端、另一端和中间位置耦接可以是指：至少三个第二检测探针PAD2中，一个第二检测探针PAD2耦接于电源信号传输线V1的首端和末端中的一端，一个第二检测探针PAD2耦接于电源信号传输线V1的首端和末端中的另一端，其余第二检测探针PAD2分别耦接于电源信号传输线V1的中间不同位置处。

在本公开实施例中，电源信号传输线V1可以用于将第二检测探针PAD2提供的电源信号经电源线引线V0传输至电源线VDD。即，电源信号传输线V1可以将第二检测探针PAD2提供的电源信号先传输至电源线引线V0，再由电源线引线V0将接收到的电源信号进一步传输至电源线VDD。

可选的，第二检测探针PAD2也可以与检测设备耦接。相应的，第二检测探针PAD2提供的电源信号可以为基板测试时，检测设备向第二检测探针PAD2传输的信号。一条电源线VDD可以与一列像素电路耦接，该电源线VDD可以将接收到的电源信号进一步传输至像素电路，从而驱动像素电路可靠工作。

同上述实施例记载，对于第二检测探针PAD2而言，其提供的电源信号仅需经较短长度的信号线即可传输至像素电路。如此，可以使得传输至像素电路的电源信号受电压降影响偏差较小，进而使得检测线SL采集到的探测信号较为可靠，进一步确保了检测设备进行基板测试的检测精度较好。

可选的，结合图2，同第一检测探针PAD1，本公开实施例记载的显示面板也可以仅包括：分别与电源信号传输线V1的首端和末端中的任一端，以及中间位置耦接的至少两个第二检测探针PAD2。

可选的，图5是本公开实施例提供的再一种显示面板的结构示意图。结合图1和图5可以看出，显示面板还可以包括：位于显示区A1的多条数据线DATA，以及位于第一非显示区B1的多条数据线引线D0，数据信号传输线D1和至少三个第三检测探针PAD3。

其中，数据线DATA可以沿第一方向X1延伸，数据线引线D0可以沿第一方向X1延伸，数据信号传输线D1可以沿第二方向X2延伸。

可选的，在本公开实施例中，如图5所示，可以是显示面板包括的多条数据线DATA中，每条数据线DATA均沿第一方向X1延伸，此时，该多条数据线DATA可以是沿第二方向X2依次排布。同理，可以是显示面板包括的多条数据线引线D0中，每条数据线引线D0均沿第一方向X1延伸，此时，该多条数据线引线D0可以是沿第二方向X2依次排布。当然，在一些实施例中，可以仅部分数据线DATA中的各条数据线DATA沿第一方向X1延伸，以及可以仅部分数据线引线D0中的各条数据线引线D0沿第一方向X1延伸。

继续参考图5，至少三个第三检测探针PAD3可以分别与数据信号传输线D1的一端、另一端和中间位置耦接。数据信号传输线D1还可以与多条数据线引线D0耦接，至少部分多条数据线引线D0可以与多条数据线DATA一一对应耦接。换言之，一条数据线DATA可以通过一条数据线引线D0与数据信号传输线D1耦接。数据信号传输线D1的的中间位置可以参考上述实施例对检测信号传输线S1的中间位置的说明，在此不再赘述。

可选的，参考图5，至少三个第三检测探针PAD3分别与数据信号传输线D1的一端、另一端和中间位置耦接可以是指：至少三个第三检测探针PAD3中，一个第三检测探针PAD3耦接于数据信号传输线D1的首端和末端中的一端，一个第三检测探针PAD3耦接于数据信号传输线D1的首端和末端中的另一端，其余第三检测探针PAD3分别耦接于数据信号传输线D1的中间不同位置处。

在本公开实施例中，数据信号传输线D1可以用于将第三检测探针PAD3提供的数据信号经数据线引线D0传输至数据线DATA。即，数据信号传输线D1可以将第三检测探针PAD3提供的数据信号先传输至数据线引线D0，再由数据线引线D0将接收到的数据信号进一步传输至数据线DATA。

可选的，第三检测探针PAD3也可以与检测设备耦接。相应的，第三检测探针PAD3提供的电源信号可以为基板测试时，检测设备向第三检测探针PAD3传输的信号。一条数据线DATA可以与一列像素电路耦接，该数据线DATA可以将接收到的数据信号进一步传输至像素电路，从而驱动像素电路可靠工作。

同上述实施例记载，对于第三检测探针PAD3而言，其提供的数据信号仅需经较短长度的信号线即可传输至像素电路。如此，可以使得传输至像素电路的数据信号受电压降影响偏差较小，进而使得检测线SL采集到的探测信号较为可靠，进一步确保了检测设备进行基板测试的检测精度较好。

可选的，结合图2，同第一检测探针PAD1，本公开实施例记载的显示面板也可以仅包括：分别与数据信号传输线D1的首端和末端中的任一端，以及中间位置耦接的至少两个第三检测探针PAD3。

可选的，在显示面板包括第一检测探针PAD1、第二检测探针PAD2和第三检测探针PAD3的前提下，显示面板中，第一检测探针PAD1的数量、第二检测探针PAD2的数量和第三检测探针PAD3的数量可以相同。

例如，参考图6，其示出的显示面板包括：沿第二方向X2依次间隔排布的四个第一检测探针PAD1，沿第二方向X2依次间隔排布的四个第二检测探针PAD2，以及沿第二方向X2依次间隔排布的四个第三检测探针PAD3。

可选的，对于图6所示结构而言，第一个第一检测探针PAD1所耦接位置与第二个第一检测探针PAD2所耦接位置的间距，第二个第一检测探针PAD1所耦接位置与第三个第一检测探针PAD2所耦接位置的间距，以及第三个第一检测探针PAD1所耦接位置与第四个第一检测探针PAD2所耦接位置的间距可以相等。如此，各个第一检测探针PAD1提供的检测信号均可以经相同长度的信号线传输至像素电路，确保传输至不同位置处的像素电路的检测信号的均一性。同理，不同位置处的像素电路上的探测信号均可以经相同长度的信号线传输至对应的第一检测探针PAD1，确保传输至各个第一检测探针PAD1的探测信号的均一性。如此，可以进一步确保检测设备的检测精度。第二检测探针PAD2和第三检测探针PAD3同理，在此不再赘述。

此外，结合图6，若将相邻的一个第一检测探针PAD1、一个第二检测探针PAD2和一个第三检测探针PAD3划分为一个检测探针组，则对于图6而言，其一共包括4个检测探针组。在本公开实施例中，第一个检测探针组和第二个检测探针组之间的间距，第二个检测探针组和第三个检测探针组之间的间距，以及第三个检测探针组和第四个检测探针组之间的间距可以相等。如此，可以便于布局。

可选的，至少两个第一检测探针PAD1可以耦接。和/或，至少两个第二检测探针PAD2可以耦接。和/或，至少两个第三检测探针PAD3可以耦接。

通过设置至少两个检测探针(此处是指第一检测探针PAD1、第二检测探针PAD2和/或第三检测探针PAD3)耦接，可以使得检测设备通过该相互耦接的各个检测探针将检测信号同时并行传输至不同位置处的像素电路中。

可选的，在本公开实施例中，相互耦接的检测探针可以为相邻的检测探针。如此，可以便于布线，简化结构，有利于显示面板的窄边框设计。

例如，在图6所示显示面板的基础上，图7示出了再一种显示面板的结构示意图。参考图7可以看出，其示出的四个第一检测探针PAD1中，相邻的第一个第一检测探针PAD1和第二个第一检测探针PAD1耦接。且，相邻的第三个第一检测探针PAD1和第四个第一检测探针PAD1耦接。其示出的四个第二检测探针PAD2中，相邻的第一个第二检测探针PAD2和第二个第二检测探针PAD2耦接。且，相邻的第三个第二检测探针PAD2和第四个第二检测探针PAD2耦接。其示出的四个第三检测探针PAD3中，相邻的第一个第三检测探针PAD3和第二个第三检测探针PAD3耦接。且相邻的第三个第三检测探针PAD3和第四个第三检测探针PAD3耦接。

可选的，结合图2至图7可以看出，显示面板还可以包括：位于第一非显示区B1的多条第一导电线L1，多条第二导电线L2和多条第三导电线L3。

其中，第一检测探针PAD1可以通过一条第一导电线L1与检测信号传输线S1耦接。第二检测探针PAD2可以通过一条第二导电线L2与电源信号传输线V1耦接。第三检测探针PAD3可以通过一条第三导电线L3与数据信号传输线D1耦接。且，不同的第一检测探针PAD1可以通过不同的第一导电线L1与检测信号传输线S1耦接。不同的第二检测探针PAD2可以通过不同的第二导电线L2与电源信号传输线V1耦接。不同的第三检测探针PAD3可以通过不同的第三导电线L3与数据信号传输线D1耦接。换言之，显示面板中包括的第一导电线L1的数量与第一检测探针PAD1的数量可以相同，显示面板中包括的第二导电线L2的数量与第二检测探针PAD2的数量可以相同，显示面板中包括的第三导电线L3的数量与第三检测探针PAD3的数量可以相同。

通过设置第一导电线L1、第二导电线L2和第三导电线L3，可以确保不同位置处设置的第一检测探针PAD1与检测信号传输线S1的可靠耦接，可以确保不同位置处设置的第二检测探针PAD2与电源信号传输线V1的可靠耦接，以及确保不同位置处设置的第三检测探针PAD3与数据信号传输线D1的可靠耦接。

可选的，本公开实施例记载的显示面板还可以包括：第一金属层和第二金属层。检测线引线S0，电源线引线V0，数据线引线D0，第一检测探针PAD1，第二检测探针PAD2，第三检测探针PAD3，与检测信号传输线S1的中间位置耦接的第一导电线L1，与电源信号传输线V1的中间位置耦接的第二导电线L2，以及与数据信号传输线D1的中间位置耦接的第三导电线L3均与第一金属层位于同层。

与检测信号传输线S1的任一端(首端或末端)耦接的第一导电线L1，与电源信号传输线V1的任一端耦接的第二导电线L2，与数据信号传输线D1的任一端耦接的第三导电线L3，检测信号传输线S1，电源信号传输线V1，以及数据信号传输线D1均与第二金属层位于同层。

换言之，与第一金属层位于同层的各条信号线和各检测探针可以位于同层。与第二金属层位于同层的各条信号线可以位于同层。且与第一金属层位于同层的各部分，以及与第二金属层位于同层的各部分是位于不同层。

位于同层可以是指：采用同一成膜工艺形成用于形成特定图形的膜层，然后利用同一掩模板通过一次构图工艺对该膜层图案化所形成的层结构。根据特定图形的不同，一次构图工艺可能包括多次曝光、显影或刻蚀工艺，而形成的层结构中的特定图形可以是连续的也可以是不连续的。即，位于“同层”的多个元件、部件、结构和/或部分由相同的材料构成，并通过同一次构图工艺形成。

可选的，第一金属层可以为显示面板中的栅极金属层GATE0，第二金属层可以为显示面板中的源漏金属层SD0。需要说明的是，位于同层的各部分之间可以直接耦接，位于不同层的各部分之间需要通过过孔耦接。

示例的，以第一金属层为栅极金属层GATE0，第二金属层为源漏金属层SD0为例，图8至图10示出了形成第一非显示区B1的各部分结构的工艺步骤等效图。

首先，可以在衬底基板01上沉积一层栅极金属层GATE0，并通过构图工艺处理该栅极金属层GATE0，从而得到图8所示的检测线引线S0，电源线引线V0，数据线引线D0，第一导电线L1，第二导电线L2和第三导电线L3。

其次，可以在图8所示结构基础上，在栅极金属层GATE0远离衬底基板01的一侧沉积一层层间介定层(interlaminar fixed layer，ILD)，并对该ILD层进行处理得到图9所示的多个过孔K0。

最后，可以在图9所示结构基础上，在ILD层远离栅极金属层GATE0的一侧沉积一层源漏金属层SD0，并通过构图工艺处理该源漏金属层SD0，从而得到图10所示的检测信号传输线S1，电源信号传输线V1，数据信号传输线D1，第一导电线L1，第二导电线L2和第三导电线L3。

耦接于检测信号传输线S1首端和末端的第一导电线L1可以直接与检测信号传输线S1耦接，耦接于电源信号传输线V1首端的和末端第二导电线L2可以直接与电源信号传输线V1耦接，耦接于数据信号传输线D1首端和末端的第三导电线L3可以直接与数据信号传输线D1耦接。并且，耦接于检测信号传输线S1中间位置的第一导电线L1可以通过图9形成的过孔K0与检测信号传输线S1耦接，耦接于电源信号传输线V1中间位置的第二导电线L2可以通过图9形成的过孔K0与电源信号传输线V1耦接，耦接于数据信号传输线D1中间位置的第三导电线L3可以通过图9形成的过孔K0与数据信号传输线D1耦接。检测信号传输线S1可以通过图9形成的过孔K0与多条检测线引线S0耦接，电源信号传输线V1可以通过图9形成的过孔K0与多条电源线引线V0耦接，数据信号传输线D1可以通过图9形成的过孔K0与多条数据线引线D0耦接。

此外，图10还示出了两个第一检测探针PAD1，两个第二检测探针PAD2和两个第三检测探针PAD3，各个检测探针均可以与栅极金属层GATE0位于同层。即，可以同图8所示结构一并形成与衬底基板01上。此外，上述实施例记载的耦接各个检测探针的信号线也可以与栅极金属层GATE0位于同层。

需要说明的是，图9形成的过孔数量可以根据实际情况灵活设置。如，检测信号传输线S1与检测线引线S0可以通过图9和图10示出的三个过孔K0耦接，或者也可以通过图7示出的两个过孔耦接。同理，第一导电线L1与检测信号传输线S1可以通过图9和图10示出的四个过孔K0耦接，或者也可以通过图7示出的两个过孔耦接。

图11是本公开实施例提供的再一种显示面板的结构示意图。如图11所示，衬底基板01还可以具有第二非显示区B2和第三非显示区B3，第二非显示区B2、显示区A1和第三非显示区B3沿第二方向X2依次排布。

在图11所示结构基础上，图12示出了本公开实施例提供的再一种显示面板的结构示意图。如图12所示，显示面板还可以包括：位于显示区A1的多条栅线GATA，位于第二非显示区B2的第一栅极驱动电路02，位于第三非显示区B3的第二栅极驱动电路03，以及位于第一非显示区B1的第四检测探针PAD4和第五检测探针PAD5。栅线GATA可以沿第二方向X2延伸。

可选的，在本公开实施例中，如图12所示，可以是显示面板包括的多条栅线GATA中，栅线GATA可以沿第二方向X2延伸，此时，该多条栅线GATA可以是沿第一方向X1依次排布。当然，在一些实施例中，可以仅部分栅线GATA中的各条栅线GATA沿第二方向X2延伸。

其中，第一栅极驱动电路02可以分别与多条栅线GATA中的一部分栅线GATA和第四检测探针PAD4耦接，第一栅极驱动电路02可以用于将第四检测探针PAD4提供的探测信号传输至所耦接的栅线GATA，以及向第四检测探针PAD4传输来自所耦接的栅线GATA的检测信号。

第二栅极驱动电路03可以分别与多条栅线GATA中的另一部分栅线GATA和第五检测探针PAD5耦接，第二栅极驱动电路03可以用于将第五检测探针PAD5提供的探测信号传输至所耦接的栅线GATA，以及向第五检测探针PAD5传输来自所耦接的栅线GATA的检测信号。

如上述实施例记载，第四检测探针PAD4可以将采集到的检测信号传输至所耦接的检测设备，以供检测设备进行基板测试。第五检测探针PAD5可以将采集到的检测信号传输至所耦接的检测设备，以供检测设备进行基板测试。

以图7和图12所示结构为例，图13示出了本公开实施例提供的再一种显示面板的结构简图。其中，可以将多条检测线引线S0，多条数据线引线D0和多条电源线引线V0划分至一个绑定组中。因共包括四个检测探针组PAD01、PAD02、PAD03和PAD04，故如图13所示，显示面板可以共包括四个绑定组COF1、COF2、COF3和COF4。四个检测探针组和四个绑定组一一对应。即，第一个检测探针组PAD01包括的第一检测探针PAD1、第二检测探针PAD2和第三检测探针PAD3可以耦接于第一个绑定组COF1附近，如耦接于对应的信号传输线的首端。第二个检测探针组PAD02包括的第一检测探针PAD1、第二检测探针PAD2和第三检测探针PAD3可以耦接于第二个绑定组COF2附近。第三个检测探针组PAD03包括的第一检测探针PAD1、第二检测探针PAD2和第三检测探针PAD3可以耦接于第三个绑定组COF3附近。第四个检测探针组PAD04包括的第一检测探针PAD1、第二检测探针PAD2和第三检测探针PAD3可以耦接于第四个绑定组COF4附近，如耦接于对应的信号传输线的末端。

图14是本公开实施例提供的一种像素的结构示意图。如图14所示，该像素包括一个发光元件O1，以及像素电路。该像素电路包括：开关晶体管T1，驱动晶体管T2，检测晶体管T3和存储电容C1。

其中，开关晶体管T1的栅极与栅线GATE耦接，开关晶体管T1的第一极与数据线DATA耦接，开关晶体管T1的第二极与驱动晶体管T2的栅极耦接。开关晶体管T1用于响应于栅线GATE提供的栅极驱动信号，将数据线DATA提供的数据信号传输至驱动晶体管T2的栅极。

驱动晶体管T2的第一极与电源线VDD耦接，驱动晶体管T2的第二极与发光元件O1的第一极耦接，发光元件O1的第二极可以接地。发光元件O1的第一极可以是指阳极，相应的，发光元件O1的第二极可以是指阴极。当然，在一些实施例中，发光元件O1的第一极也可以是指阴极，相应的，发光元件O1的第二极可以是指阳极。驱动晶体管T2可以基于其栅极的信号和电源线VDD提供的电源信号向发光元件O1传输驱动信号，以驱动发光元件O1发光。

检测晶体管T3的栅极与扫描线Scan耦接，检测晶体管T3的第一极与检测线SL耦接，检测晶体管T3的第二极与驱动晶体管T2的第二极耦接。检测晶体管T3可以响应于扫描线Scan提供的扫描信号，向驱动晶体管T2的第二极传输检测信号，以及采集驱动晶体管T2的第二极的电位，该采集到的电位即为上述实施例记载的探测信号。

存储电容C1的一端可以与电源线VDD耦接，另一端可以与驱动晶体管T2的栅极耦接。存储电容C1可以用于稳定驱动晶体管T2的栅极的电位。

可选的，本公开实施例记载的像素电路中的各个晶体管可以为图14所示的P型晶体管。或者，也可以为N型晶体管。且，可以将其中源极称为第一极，漏极称为第二极，或将其中漏极称为第一极，源极称为第二极。按附图中的形态规定晶体管的中间端为栅极、信号输入端为源极、信号输出端为漏极。

可选的，上述实施例记载的栅极金属层可以为制作像素电路使用的栅极金属层，源漏极金属层可以为制作像素电路使用的源漏极金属层。如此，可以简化制造工艺，节省制造成本。

结合图14所示结构，对检测原理进行如下说明：可以将基板测试阶段划分为复位阶段、充电阶段，发光阶段和测试阶段。在复位阶段，检测设备通过第一检测探针PAD1向检测线SL提供检测信号。检测晶体管T3响应于扫描线Scan提供的扫描信号，将来自检测线SL的检测信号传输至驱动晶体管T2的第二极，以实现对驱动晶体管T2的第二极的复位。在充电阶段，检测设备通过第三检测探针PAD3向数据线DATA提供数据信号。开关晶体管T1响应于栅线GATE提供的栅极驱动信号，将来自数据线DATA的数据信号传输至驱动晶体管T2的栅极，以为驱动晶体管T2的栅极充电。在发光阶段，检测设备通过第二检测探针PAD2向电源线VDD提供电源信号，驱动晶体管T2基于该电源信号以及其栅极此时的信号，向发光元件O1传输驱动信号，发光元件O1发光。在测试阶段，检测晶体管T3响应于扫描线Scan提供的扫描信号，采集驱动晶体管T2的第二极的电位，并将采集到的电位传输至检测线SL。检测线SL再将该电位以探测信号的形式经第一检测探针PAD1传输至检测设备，以供检测设备检测。

可选的，本公开实施例记载的显示面板的面积可以大于75寸，且分辨率可以大于等于8K，K为分辨率的单位。如，显示面板的规格可以为95’8K，95’是指显示面板的面积为95寸，8K是指显示面板的分辨率为8K。规格为95’8K的显示面板中，耦接像素电路的栅极(gate)的每条信号线(如，栅线)的末端(即，gate-in)至栅线的末端(即，gate-end)的长度约为2100毫米(mm)。耦接像素电路的源极(source)的每条信号线(如，数据线)的末端(即，source-in)至数据线的末端(即，source-end)的长度约为1180mm。

规格为95’8K的显示面板相对于面积较小的显示面板(如规格为55’4K的显示面板)而言，因面积和分辨率分别提升了约3倍和4倍，故每条信号线上的寄生电容约高60％，每条信号线上的寄生电阻约高40％。较大的寄生电容和寄生电阻会导致信号线上传输的信号发生衰减，进而导致信号线上传输的信号出现电压降问题。如此，会影响基板测试精度。而在本公开实施例中，因设置了多个检测探针，故避免了信号需经较长的信号线传输至检测探针的问题。换言之，降低了显示面板(尤其是大尺寸显示面板)中，信号线上的电压降对基板测试时精度造成的影响。即，提高了基板测试的测试精度。

综上所述，本公开实施例提供了一种显示面板。该显示面板包括多条检测线，与该多条检测线一一对应耦接的多条检测线引线，与该多条检测线引线耦接的检测信号传输线，以及分别耦接至该检测信号传输线的一端和中间位置处的至少两个第一检测探针。如此，相对于仅设置一个检测探针耦接检测信号传输线而言，可以使得探测信号经较短的信号线传输至检测探针，进而传输至检测探针的探测信号受电压降影响出现的偏差较低。相应的，检测设备可以从检测探针处可靠采集到探测信号，并基于探测信号对显示面板进行精确检测。

图15是本公开实施例提供的一种显示装置的结构示意图。如图15所示，该显示装置可以包括：供电组件10，以及如图2至图14任一所示的显示面板00。其中，供电组件10可以与显示面板00耦接，并用于为显示面板00供电。

可选的，本公开实施例记载的显示装置可以为：OLED显示装置、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

以上所述仅为本公开的可选实施例，并不用以限制本公开，凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改.等同替换.改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。