具体实施方式

如图2与图3所示，本发明涉及的测试装置包括旋转滑台模组1、垂直滑台模组2、三轴力传感器203、低温杜瓦205、永磁轨道101和底座3，在底座3上设置旋转滑台模组1，旋转滑台模组1上固定永磁轨道101，旋转滑台模组1的旋转电机105驱动永磁轨道101旋转，永磁轨道101上方设置低温杜瓦205，低温杜瓦205底部设置高温超导体206，所述三轴力传感器203与垂直滑台模2组连接。

如图5所示的，永磁轨道101正上方初始冷却高度CH处设置低温杜瓦205，使永磁轨道101随着转盘高速旋转，此时向低温杜瓦205中添加液氮，间接模拟高温超导体206与永磁轨道101在相对运动过程中进行场冷，当高温超导体206完全冷却后，之后分两种情况进行测试，一种是永磁轨道101静止在低温杜瓦下方，使得低温杜瓦与永磁轨道的悬浮间隙Gap为工作高度WH，三轴力传感器203测量低温杜瓦205的悬浮力、导向力及磁阻力。另一种是永磁轨道101继续高速旋转在低温杜瓦205下方，使得低温杜瓦205与永磁轨道101的间隙为工作高度WH，通过三轴力传感器测量低温杜瓦205的悬浮力、导向力及磁阻力。

如图1、图2、图3、图4与图5所示，本发明提供了一种高温超导磁浮系统动态场冷过程及测量方法，所述方法包括以下步骤：

S1：组建动态场冷过程及测试装置并进行测试前的准备；

所述步骤S1包括如下步骤：

S101：永磁轨道101上方一定间隙放置低温杜瓦205，永磁轨道底部固定在永磁轨道基底102上，永磁轨道和永磁轨道基底整体固定在旋转滑台模组1上；

S102：将三轴力传感器203的一端通过“π”型连接件204连接低温杜瓦205，另一端与垂直移动横梁202相连接；

S103：垂直移动横梁202与垂直驱动电机211相连接，通过调节垂直移动横梁202的高度来间接的调节低温杜瓦205的高度；

S104：将三轴力传感器203通过信号线与数据采集系统连接；

S105：数据采集系统采集三轴力传感器203的测量数据；

S2：将高温超导体206固定在低温杜瓦205底部，调节旋转滑台模组1，使得圆环形的永磁轨道101正对于低温杜瓦205；

所述步骤S2包括如下步骤：

S201：将高温超导体206放入低温杜瓦205的底部，并锁紧；

S202：将永磁轨道101的位置横向中心线与其上方低温杜瓦205的横向中心线重合；

S203: 将永磁轨道101的位置纵向中心线与其上方低温杜瓦205的纵向中心线重合；

S3：调节低温杜瓦初始高度CH，并旋转圆环形的永磁轨道101；

所述步骤S3包括如下步骤：

S301：根据不同初始高度CH要求，调节垂直移动横梁202，通过垂直长度计量器207记录达到要求；

S302：开启旋转电机105，低温杜瓦205下的圆环形永磁轨道101随着旋转电机105发生高速旋转；

S4：制冷低温杜瓦205，模拟低温杜瓦205在动态中场冷；

所述步骤S4包括如下步骤：

S401：通过注入液氮、低压固氮处理、制冷机制冷的单一方法或任意二种及以上的组合方法，对低温杜瓦205中的高温超导体206进行制冷；

S402：在制冷过程，低温杜瓦205与圆环形永磁轨道101发生相对运动，间接模拟低温杜瓦205在动态状态下进行场冷；

S403：通过调节旋转电机105的频率，改变其转速，使得其上方低温杜瓦205在不同速度运动状态下进行场冷；

S5：高温超导体206完全场冷后，调节低温杜瓦205的高度为工作高度WH，三轴力传感器203采集数据实时反馈到信息采集系统，并对信息采集系统采集的数据处理；

所述步骤S5包括如下步骤：

S501：垂直移动横梁202与垂直驱动电机211通过传动系统相连接，调节低温杜瓦205与永磁轨道101的间隙为工作高度（WH）；

S502：三轴力传感器203测量低温杜瓦205所受的导向力和悬浮力；

S503：通过三轴力传感器203将数据传到数据采集系统，关闭旋转电机105。

以上高温超导磁浮系统的动态场冷过程及测量方法，同样适用于如图6所示的侧向环形永磁轨道所构成的动态性能测试装置中，具体流程与步骤可参考本实施例，这里不再复述。

可以看出，与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明的目的为了有效的解决在不同速度、不同高度下高温超导体（YBCO）场冷的问题，能够有效的测试动态速度对悬浮力大小的影响，进而扩展了高温超导磁浮系统的动态性能评价指标及测量方法。

以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。